2017/03/30

毎年開催をさせて頂いておりますSEM・EDSセミナーを、今年も企画いたしました。
走査電子顕微鏡を使い始めて間もない方やEDSでの分析を始められたばかりの方などを中心に、初級者の方から装置をある程度使われている方を対象とした座学形式のセミナーです。
本セミナーでは、「SEM入門」と「EDS入門」の二つのトピックスに関して座学形式で講演いたします。SEM入門編では、日頃SEMを使っているなかで、問題点をどのように解決していくか、観察時の留意点等様々な事例を紹介しながら 具体的に説明、講演いたします。
また、EDS入門編では、正しい分析をするためにはどのようなことに注意して操作・分析を行ったらよいのか等のポイントを中心に講演をさせていただきます。
講演内容としましては、汎用型走査電子顕微鏡からフィールドエミッション型走査電子顕微鏡をお使いの方までを対象にした内容となっております。
時節柄大変お忙しいとは存じますが、ぜひご参加頂きますようご案内申し上げます。

主催:日本電子株式会社

開催日/会場

  • 日程:
    2017年7月20日(木) 10:20~15:35 (受付10:00~)
  • 会場:
    連合会館 大会議室
  • 会場住所:
    東京都千代田区神田駿河台3-2-11
    TEL 03-3253-1771(代)
  • 会場アクセス:
    JR中央線・総武線 御茶ノ水駅(聖橋出口)徒歩5分
    東京メトロ千代田線 新御茶ノ水駅・東京メトロ丸ノ内線 淡路町駅
    都営地下鉄新宿線 小川町駅いずれもB3出口直ぐ

お申し込み

  • 参加費:
    10,800円(消費税込) 
    ※保守契約に加入されているお客様は、無料での参加の特典がございます。(ただし、1社・1名様/年1回)
  • 定員:
    100名
  • お申込み締め切り:
    2017年7月6日(木) ※定員になり次第、締め切らせて頂きます。お早めにお申し込み下さい。
  • お申込み方法:
    こちらのフォーム よりお申込み下さい。
    もしくは、こちらの申込書 (PDF 129KB)をダウンロードのうえ、FAXにてお申し込み下さい。

セミナー内容

SEM入門
「観察時の留意点」
EDS入門
「正しい分析をするために大切なポイントと操作方法」

※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
※ 昼食のご用意はありません。ご案内を致しますので各自でお取り下さい。
※ お申し込みから一週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
※ キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。

お問合せ

  • 日本電子株式会社 科学・計測機器営業本部
    担当: 山本(やまもと)
    電話: 03-6262-3566
    FAX: 03-6262-3577