TEM周辺機器
透過電子顕微鏡 (TEM) の観察には試料前処理が欠かせません。
TEMでの条件設定よりも、試料前処理の完成度がデータ取得の良し悪しを大きく左右します。また、性能に影響を及ぼす様々な外乱要因を最小限に収めるための設置環境対策も必要になります。
当社は多様な電子顕微鏡周辺機器を用意しており、最高のデータ取得へのトータルソリューションを提供します。
製品一覧
薄切関連装置
イオンミリング装置 (薄膜用)
凍結関連装置
切断／打ち抜き装置
研磨装置 (TEM)
観察準備関連装置
その他 (TEM)
設置対策関連 (TEM)
TECHNOLOGY / CASE STUDY 技術・事例
インタビュー、導入事例、開発秘話の形式で、ユーザーの皆様からいただいた声をご紹介します。現在の課題について解決のヒントが得られるかもしれません。ぜひ、ご覧ください。
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