JEM-ACE200F
ハイスループット解析電子顕微鏡

JEM-ACE200Fは操作ワークフローのレシピを作成することによって、オペレーターは直接電子顕微鏡操作を行わなくてもデータを取得できるシステムに対応した電子顕微鏡です。
ハイエンド電子顕微鏡であるJEM-ARM200Fや汎用FE-TEMであるJEM-F200のハードウェアテクノロジーを統合して高安定性、高分解能を実現し、装いも新たに洗練されたデザインでデビューしました。

特長

本体プラットフォーム

• Cs補正装置搭載可能 、CFEG

• 高速・高精度ステージ　既存のモーター駆動制御に比べ3倍速く、Piezo駆動制御と同等の微動制御可能

簡単操作

• TEMの操作経験が浅くても直観的に操作可能

  • 操作盤を使用した操作を極力少なくし、画面上のボタンを順番にクリックしながら最終画像を取得可能
  • フォーカス調整等もマウス操作で可能
  • ガタンカメラとインテグレーション可能

• 自動調整機能

  • オートフォーカス、オート非点合わせ、オート試料高さ調整、オートビームセンタリング、オートオリエンテーション等

自動データ取得機能

• レシピによる自動データ取得可能

  • TEM像、STEM像、元素マップ
  • グリッド上の複数試料に対応

測長ソフトウェアとのリンク

• TEM側で設定倍率別に倍率キャリブレーション可能

  • 複数のJEM-ACE200Fで取得したデータを自動測長可能

遠隔操作

• 隣室オペレーション

• 遠隔地オペレーションおよび複数地点同時観察 (ネットワーク環境に依存)

  • 複数事業所とディスカッションしながら同時観察可能

鏡筒エンクロージャーによる耐環境性能向上

• 騒音、気流、室温変化の抑制に寄与

• 内壁に吸音材を装着して、更なる防音対策可能

Analysis instrumentsからAnalysis toolへ

－STEM/TEM解析を自動化し、プロセス改善、品質管理の安定的な向上に役立ちます－

仕様・オプション

アプリケーション

JEM-ACE200Fに関するアプリケーション

CryoNote

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