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新製品一覧

IB-19540CP クロスセクションポリッシャ™ IB-19550CCP 冷却クロスセクションポリッシャ™

ウルトラミクロトーム UC Enuity 凍結切削システム UC Enuity Cryo (Leica社製)

EM RAPID 断面試料作製装置(Leica社製)

JSM-IT810 電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT810 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JBX-A9 シリーズ電子ビーム描画装置

JEM-120i 電子顕微鏡

カーボンコーター  VC-300S/300W (真空デバイス社製)

カーボンコーターVC-300S/300W (真空デバイス社製)

CRYO-FIB-SEM

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

冷媒蒸発抑制装置

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

NMR spectrometerECZ Luminous™(JNM-ECZLシリーズ)FT NMR装置

JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計

Centri (マルチモードサンプリングTDシステム)

Centri(マルチモードサンプリングTDシステム)

Park NX10 / NX20 / FX40 研究用AFMソリューション

Park NX10 / NX20 / FX40研究用AFMソリューション

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TECHNOLOGY / CASE STUDY 技術・事例

インタビュー、導入事例、開発秘話の形式で、ユーザーの皆様からいただいた声をご紹介します。現在の課題について解決のヒントが得られるかもしれません。ぜひ、ご覧ください。

やさしい科学

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