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会社案内（登録不要）

日本電子news Vol.55 No.1, 2023

製品案内（登録不要）

電子顕微鏡関連周辺機器

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

JEM-F200 多機能電子顕微鏡

JEM-2200FS 電界放出形透過電子顕微鏡

JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡

JEM-1400Flash 電子顕微鏡

遠隔操作システムのご案内

SightSKY Camera EM-04500SKY 高感度・低ノイズ ファイバーカップリングCMOS カメラ

OBF System

TEM-EDS元素マッピング用高速ロスレス・ドリフト補正

JEM-1400/JEM-1400Plus Flash化バージョンアップ

SAAF Octa 分割型検出器(8分割型)

4DCanvas™ ピクセル型STEM検出器

Sin Window Chip

IDES社 製品カタログ

JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800(SHL) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

JSM-IT800(i)/(is) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

Gather-X JEDシリーズ　ドライSD™ Windowless EDS

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

SM-92100EUVC エキシマＵＶクリーナー

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 FE-SEM

miXcroscopy 光学顕微鏡 / 走査電子顕微鏡リンクシステム

OM-SEMリンクシステム (miXcroscopy(TM)シリーズ)

SEMによる アレイトモグラフィー法

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JSM-IT200 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

JSM-IT200用EDS ドライSD™60検出器

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT200

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT700HR

走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-6610シリーズ

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置

OmniProbe350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING

イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS

IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム

IB-19520CCP 断面試料作製装置

IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置

クロスセクションポリッシャ™位置合わせ顕微鏡

JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iSP100 タングステン／LaB6電子プローブマイクロアナライザ

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

EPMA-XRFインテグレーションシステム

電子プローブマイクロアナライザー用試料ホルダーおよび消耗品 JXA-iSP100 / JXA-iHP200F

JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

Spectrum Image JAMP-9510F / 9500F

JPS-9030 光電子分光装置

NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

NMR spectrometer Z (JNM-ECZRシリーズ) NMR装置

NMR spectrometer Z (JNM-ECZSシリーズ) NMR装置

Solid State NMR

NMR用冷媒蒸発抑制装置

NR50 (NMR用液体窒素抑制装置)

NS20WJ (NMR用液体窒素供給装置)

ROYALプローブ™ HFX

ハイスループット固体NMR

NMRデータ処理ソフト Delta NMR Software for Processing

JASONソフトウェア

JEOL NMR 遠隔操作環境構築例の紹介

JEOL NMR のデータインテグリティ対応

NMRで、できること

NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR

分析結果の信頼性は確保されていますか？

JES-X3 シリーズ ESR装置

電子スピン共鳴装置 (ESR) JES-X3シリーズ アタッチメント

ES-13070VT400 温度可変装置

ESR入門

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

低真空液体試料カプセル

低真空液体カプセル

異物分析用共通ホルダー

パーツカタログ エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計

JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計

JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計

JMS-700 MStation 高性能二重収束質量分析計

HS/GC/MS モニタリングシステム

msFineAnalysis AI 未知物質構造解析ソフトウェア

msFineAnalysis シリーズ　GC-MS 統合定性解析ソフトウェア

TQ-DioK ダイオキシン分析プログラム

ヘッドスペースオートサンプラー MS-62071STRAP HS

究極の熱分析ツール TG-TOFMS

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum and Petrochemical Solutions (英語版)

Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS : GCxGC Applications (英語版)

Gas analysis ガス分析ソリューション

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大気圧イオン化飛行時間質量分析計

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

msRepeatFinder ポリマー解析用ソフトウェア

MALDI-TOFMS イメージングシステム　日本電子×SCiLS

JeoQuant 質量分析法によるビタミンD代謝物4分画測定キット

LC-MS/MS受託サービスのご案内

NMR用試料溶液をそのまま精密質量MS測定！

高分子材料分析 ガイドブック

知って活用！！GC-MS ガイドブック

JEOL GC-MS 前処理法ガイドブック

イオン化法ガイドブック

イオン化法ガイドブック 2

極微小単結晶構造解析プラットフォーム　XtaLAB Synergy-ED

μCTシリーズ X線CT微細構造システム (材料系)

μCT50 X線マイクロCT装置

GC-8610T/310C ポータブルガスクロマトグラフシリーズ

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター

JEOL産業機器総合カタログ

BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源

BS-60310BDS ボンバード蒸着源

BS-60610BDS ボンバード蒸着源

研究開発用 電子ビーム蒸着装置

BS-60250DEM 電子銃

BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源

BS-04 シリーズ ロータリーセンサー

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

RF-120シリーズ 高周波電源

BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

高周波誘導熱プラズマ装置

TP-40020NPS 高周波誘導熱プラズマナノ粒子合成装置

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

BS-EBM シリーズ 多目的電子ビーム溶解炉

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

SEMバイオ写真集

陽極酸化皮膜

Foodnote 食品分析ソリューション

食品分析ソリューション②

BatteryNote バッテリーノート

LIBnote リチウムイオンバッテリーノート

Solid-State Battery Note

車載電池製造ラインの環境検査 異物の全自動粒子検査システム

Bionote バイオソリューション

Polymernote ポリマーノート

CryoNote

UrushiNote 漆で学ぶ高分子材料分析

CLEMnote Correlative Light and Electron Microscopy note

最先端理科学機器のための設置環境技術

磁場対策のご案内

振動対策のご案内

温度変動対策のご案内

ラボ環境コンサルティングのご案内

電子顕微鏡用高精度冷却水循環装置 enoaqua

ウルトラミクロ/ミクロ天秤用恒温恒湿システム FS-71100CTH

EST-L6H-4700-01 NEOARM用アクティブ除振システム

TCN300XNL JEM-ARM300F用アクティブ除振システム

保守契約のご案内

講習コースのご案内

ステップアップサービスのご案内

ブリッジングサービスのご案内

受託分析のご案内 (顕微鏡関連)

受託分析のご案内

MSとNMRメーカーの 日本電子の受託分析をご存知ですか？

高分解能μCTによる3D受託分析のご提案

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)

分析機器もシェアリングサービスへ

シェアリングサービス JEM-ARM200F NEOARMex

シェアリングサービス 核磁気共鳴装置

JEOL-rento

CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)