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会社案内（登録不要）

日本電子news Vol.57 No.1, 2025

製品案内（登録不要）

電子顕微鏡関連周辺機器

バイオ・ソフトマテリアル向け研究開発支援機器

CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-Z200CA (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡

JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

JEM-F200 多機能電子顕微鏡

JEM-2200FS 電界放出形透過電子顕微鏡

JEM-2100Plus 透過電子顕微鏡

JEM-1400Flash 電子顕微鏡

JEM-120i 電子顕微鏡

遠隔操作システムのご案内

SightSKY Camera EM-04500SKY 高感度・低ノイズ ファイバーカップリングCMOS カメラ

OBF System

TEM-EDS元素マッピング用高速ロスレス・ドリフト補正

JEM-1400/JEM-1400Plus Flash化バージョンアップ

SAAF Octa 分割型検出器(8分割型)

4DCanvas™ ピクセル型STEM検出器

Sin Window Chip

FEMTUS™ 統合分析プラットフォーム -EDS編-

IDES社 製品カタログ

IDES Application note 電子線に弱い試料のSTEM像取得例 -ゼオライト-

IDES Application note フライバック由来の電子線損傷を除去したSTEM法の紹介

IDES Application note ドーズペインティング

IDES Application note EDM SynchronyによるSTEM電子線損傷の低減例

SEMシリーズ

JSM-IT810 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

Neo Comfort FE-SEM防音エンクロージャー

Gather-X JEDシリーズ ドライSD™ Windowless EDS

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線発光分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

SM-92100EUVC エキシマＵＶクリーナー

miXcroscopy 光学顕微鏡 / 走査電子顕微鏡リンクシステム

OM-SEMリンクシステム (miXcroscopy(TM)シリーズ)

SEMによる アレイトモグラフィー法

ウルトラフラットカーボンBIG

FE-SEMパーツカタログ

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡

JSM-IT210 走査電子顕微鏡

JCM-7000 NeoScope™ 卓上走査電子顕微鏡

異物分析・材料判別に最適なデスクトップツール

品質保証に最適なデスクトップツール

JCM-7000 卓上走査電子顕微鏡 パーツカタログ

JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 パーツカタログ

JSM-IT210 走査電子顕微鏡 パーツカタログ

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

OmniProbe350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING

イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS

IB-19540CP/IB-19550CCP クロスセクションポリッシャ™

IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム

IB-19520CCP 断面試料作製装置

IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置

クロスセクションポリッシャ™位置合わせ顕微鏡

JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iSP100 タングステン／LaB6電子プローブマイクロアナライザ

軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP

軟X線発光分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER

Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)

EPMA-XRFインテグレーションシステム

JXA-iSP100 / JXA-iHP200F 電子プローブマイクロアナライザー用試料ホルダーおよび消耗品

JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ

Spectrum Image JAMP-9510F / 9500F

JPS-9030 光電子分光装置

NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置

Solid State NMR

ECZ Luminous™ シリーズアクセサリーカタログ

NMR用冷媒蒸発抑制装置

NR50 (NMR用液体窒素抑制装置)

NS20WJ (NMR用液体窒素供給装置)

ROYALプローブ™ P＋ 高感度多核溶液NMRプローブ

ROYALプローブ™ HFX

ROYALプローブ™ AUTOMAS

SuperCOOL MARVEL

ハイスループット固体NMR

NMRデータ処理ソフト Delta NMR Software for Processing

JASONソフトウェア

JEOL NMR 遠隔操作環境構築例の紹介

JEOL NMR のデータインテグリティ対応

NMRで、できること

NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR

分析結果の信頼性は確保されていますか？

短期集中NMR講座 (WEBセミナー動画集)

Delta SpecScan-Daily ECZ/ECZLシリーズ日常点検ソフトウェア

NM/MS　有機化学ソリューション

SuperCOOLプローブ 超高感度極低温溶液プローブ

JES-X3 シリーズ ESR装置

電子スピン共鳴装置 (ESR) JES-X3シリーズ アタッチメント

ES-13070VT400 温度可変装置

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

低真空液体試料カプセル

異物分析用共通ホルダー

パーツカタログ エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)

JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計

JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計

JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計

msFineAnalysis iQ ver.2 GC-MS統合定性解析ソフトウェア

msFineAnalysis AI ver.2 未知物質構造解析ソフトウェア

HS/GC/MS モニタリングシステム

TQ-DioK ダイオキシン分析プログラム

ヘッドスペースオートサンプラー MS-62071STRAP HS

究極の熱分析ツール TG-TOFMS

JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum and Petrochemical Solutions (英語版)

Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS : GCxGC Applications (英語版)

Gas analysis ガス分析ソリューション

TD100-xr サーマルディソープションオートサンプラー

JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大気圧イオン化飛行時間質量分析計

JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 3.0 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計

msRepeatFinder Ver.8 ポリマー解析用ソフトウェア

MALDI-TOFMS イメージングシステム　日本電子×SCiLS

NMR用試料溶液をそのまま精密質量MS測定！

高分子材料分析 ガイドブック

知って活用！！GC-MS ガイドブック

JEOL GC-MS 前処理法ガイドブック

イオン化法ガイドブック

イオン化法ガイドブック 2

極微小単結晶構造解析プラットフォーム　XtaLAB Synergy-ED

μCTシリーズ X線CT微細構造システム (材料系)

μCT50 X線マイクロCT装置

GC-8610T/310C ポータブルガスクロマトグラフシリーズ

JBX-A9シリーズ 電子ビーム描画装置

JBX-8100FSシリーズ 電子ビーム描画装置

JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター

JEOL Additive Manufacturing New Technical Information

JEOL産業機器総合カタログ

BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源

BS-60310BDS ボンバード蒸着源

BS-60610BDS ボンバード蒸着源

研究開発用 電子ビーム蒸着装置

BS-60250DEM 電子銃

BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源

BS-04 シリーズ ロータリーセンサー

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

高周波誘導熱プラズマ装置

TP-40020NPS 高周波誘導熱プラズマナノ粒子合成装置

TP-99260FDR 粉末供給装置

TP-99140FDR 粉末供給装置

JEBG シリーズ 直進形電子銃・電源

BioMajesty Line-up 生化学自動分析装置ラインナップ

JCA-ZS050 生化学自動分析装置

JCA-BM6010G 生化学自動分析装置

JCA-BM6050 生化学自動分析装置

BioMajesty6070G 生化学自動分析装置

JCA-BM9130 生化学自動分析装置

BioMajesty8000GX 生化学自動分析装置

JCS-60L CLALIS™ 1.1 臨床検査情報処理システム

JCS-60L CLALIS™リンクPlus 1.1 拡張データ処理システム

LIBnote リチウムイオンバッテリーノート

Solid-State Battery Note

車載電池製造ラインの環境検査 異物の全自動粒子検査システム

BatteryNote バッテリーノート

Polymernote ポリマーノート

Foodnote 食品分析ソリューション

食品分析ソリューション②

Bionote バイオソリューション

CryoNote クライオノート

Bio Photographs　SEMバイオ写真集

CLEMnote Correlative Light and Electron Microscopy note

Sustainable material Note "漆"の工業的利用に向けた特性評価(NMR編)

UrushiNote　漆で学ぶ高分子材料分析

陽極酸化皮膜

Chemical Analysis Equipment 分析機器複合カタログ

最先端理科学機器のための設置環境技術（登録不要）

磁場対策のご案内（登録不要）

振動対策のご案内（登録不要）

温度変動対策のご案内（登録不要）

ラボ環境コンサルティングのご案内（登録不要）

FS-78210AMC 理科学機器用アクティブ磁場キャンセラーシステム（登録不要）

DS-78600CWS 理科学機器用 循環水温度安定化ボックス（登録不要）

EST-L6HF-A017 JEM-ARM300F2用アクティブ除振システム（登録不要）

EST-L6H-4700-01 NEOARM用アクティブ除振システム（登録不要）

TCN300XNL JEM-ARM300F用アクティブ除振システム（登録不要）

耐震ゲルマット付き装置固定金具「J-mat」（登録不要）

保守契約のご案内（登録不要）

講習会のご案内（登録不要）

講習コースのご案内（登録不要）

ステップアップサービスのご案内

ブリッジングサービスのご案内

受託分析のご案内 (顕微鏡関連)（登録不要）

受託分析のご案内（登録不要）

MSとNMRメーカーの 日本電子の受託分析をご存知ですか？（登録不要）

高分解能μCTによる3D受託分析のご提案（登録不要）

定額フルサポートプラン (レンタルサービス)（登録不要）

分析機器もシェアリングサービスへ（登録不要）

シェアリングサービス JEM-ARM200F NEOARMex（登録不要）

シェアリングサービス 核磁気共鳴装置（登録不要）

JEOL-rento

CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)