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会社案内
日本電子ニュース
日本電子news Vol.55 No.1, 2023
製品案内 / 周辺機器
透過電子顕微鏡 (TEM)
CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
JEM-Z200FSC (CRYO ARM™ 200) 電界放出形クライオ電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 原子分解能電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2 高分解能STEMイメージング
JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡
オプション (TEM)
SightSKY Camera EM-04500SKY 高感度・低ノイズ ファイバーカップリングCMOS カメラ
TEM-EDS元素マッピング用高速ロスレス・ドリフト補正
JEM-1400/JEM-1400Plus Flash化バージョンアップ
IDES社 製品 (TEM)
走査電子顕微鏡 (SEM)
SEMシリーズ
FE-SEM
JSM-IT800 ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800(SHL) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800(i)/(is) ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡
オプション (FE-SEM)
Gather-X JEDシリーズ ドライSD™ Windowless EDS
軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP
軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER
Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)
走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 FE-SEM
miXcroscopy 光学顕微鏡 / 走査電子顕微鏡リンクシステム
OM-SEMリンクシステム (miXcroscopy(TM)シリーズ)
汎用SEM
JSM-IT700HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
JSM-IT510 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
JSM-IT200 InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
オプション (汎用SEM)
JSM-IT200用EDS ドライSD™60検出器
走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT200
走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-IT700HR
走査電子顕微鏡用試料ホルダー及び消耗品 JSM-6610シリーズ
イオンビーム応用装置 (FIB、CP)
集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)
JIB-4000PLUS 集束イオンビーム加工観察装置
オプション (FIB)
OmniProbe350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター
IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS 自動TEM薄膜作製システム STEMPLING
イオンビーム応用装置用試料ホルダー及び消耗品 JIB-46XXF / JIB-4700F / JIB-4000 / JIB-4000PLUS
断面試料作製装置 (CP)
IB-10500HMS クロスセクションポリッシャ™ ハイスループットミリングシステム
IB-19530CP クロスセクションポリッシャ™ 断面試料作製装置
オプション (CP)
微小領域分析・表面分析装置 (EPMA、Auger、XPS、ESCA)
電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)
JXA-iHP200F ショットキー形電子プローブマイクロアナライザ
JXA-iSP100 タングステン/LaB6電子プローブマイクロアナライザ
オプション (EPMA)
軟X線発光分光器 SXES-LR/ER,-LREP/EREP
軟X線分光器 Super Spectrometer SS-94000SXES/SS-94040SXSER
Handbook of Soft X-ray Emission Spectra Version 8.0 (July. 2023)
電子プローブマイクロアナライザー用試料ホルダーおよび消耗品 JXA-iSP100 / JXA-iHP200F
オージェマイクロプローブ (Auger)
JAMP-9510F フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
オプション (Auger)
Spectrum Image JAMP-9510F / 9500F
光電子分光装置 (XPS、ESCA)
核磁気共鳴装置 (NMR)
NMR spectrometer ECZ Luminous™ (JNM-ECZLシリーズ) FT NMR装置
NMR spectrometer Z (JNM-ECZRシリーズ) NMR装置
NMR spectrometer Z (JNM-ECZSシリーズ) NMR装置
NMRデータ処理ソフト Delta NMR Software for Processing
NMR Solutuion NMRによる定量分析 qNMR
電子スピン共鳴装置 (ESR)
オプション (ESR)
電子スピン共鳴装置 (ESR) JES-X3シリーズ アタッチメント
蛍光X線分析装置 (XRF)
JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)
オプション (XRF)
パーツカタログ エネルギー分散形蛍光X線分析装置 (XRF)
質量分析計 (MS)
GC-MS, Gas Analysis MS
JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zeta ガスクロマトグラフ四重極質量分析計
JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha 高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計
JMS-TQ4000GC UltraQuad™ TQ ガスクロマトグラフ三連四重極質量分析計
JMS-800D ダイオキシン類分析専用質量分析計
JMS-700 MStation 高性能二重収束質量分析計
オプション (GC-MS, Gas Analysis MS)
msFineAnalysis AI 未知物質構造解析ソフトウェア
msFineAnalysis シリーズ GC-MS 統合定性解析ソフトウェア
ヘッドスペースオートサンプラー MS-62071STRAP HS
JMS-T2000GC AccuTOF™ GC-Alpha Petroleum and Petrochemical Solutions (英語版)
Comprehensive 2D GC coupled with JEOL GC-HRTOFMS : GCxGC Applications (英語版)
LC-MS (DART-MS) 、MALDI-TOFMS
JMS-T100LP AccuTOF™ LC-Express 大気圧イオン化飛行時間質量分析計
JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計
オプション (LC-MS (DART-MS) 、MALDI-TOFMS)
msRepeatFinder ポリマー解析用ソフトウェア
MALDI-TOFMS イメージングシステム 日本電子×SCiLS
JeoQuant 質量分析法によるビタミンD代謝物4分画測定キット
MSガイドブック
計測機器
極微小単結晶構造解析プラットフォーム XtaLAB Synergy-ED
μCTシリーズ X線CT微細構造システム (材料系)
GC-8610T/310C ポータブルガスクロマトグラフシリーズ
半導体製造装置
電子ビーム金属3Dプリンター (AM)
JAM-5200EBM 電子ビーム金属3Dプリンター
成膜関連機器・材料生成機器
成膜関連機器 (電子銃・プラズマ源・他)
BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源
BS-800 Series/BS-920 Series プラズマアシスト用 プラズマソース/電源
BS/JEBG シリーズ 電子銃 ・ JST/BS-ICE シリーズ 電源
材料生成機器 (ナノ粒子合成/ナノ粒子表面改質・電子ビーム溶解)
TP-40020NPS 高周波誘導熱プラズマナノ粒子合成装置
YOKOGUSHI
車載電池製造ラインの環境検査 異物の全自動粒子検査システム
CLEMnote Correlative Light and Electron Microscopy note
設置環境対策
関連製品 (設置環境対策)
ウルトラミクロ/ミクロ天秤用恒温恒湿システム FS-71100CTH
EST-L6H-4700-01 NEOARM用アクティブ除振システム
TCN300XNL JEM-ARM300F用アクティブ除振システム
保守契約
講習
受託分析
MSとNMRメーカーの 日本電子の受託分析をご存知ですか?
定額フルサポートプラン (レンタルサービス)
シェアリングサービス
シェアリングサービス JEM-ARM200F NEOARMex
分析装置サブスクリプションサービス (JEOL-rento)
CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)
CPレシピサポートのご案内 (断面試料作製装置 クロスセクションポリッシャ™)