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集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

イオンビームにより試料を観察しながら、高速かつ精密に加工します。自動加工による透過電子顕微鏡 (TEM) 試料の作成や、三次元解析が可能です。
走査電子顕微鏡 (SEM) を搭載した複合ビーム加工観察装置なら、検出器を取り付けることにより様々な分析が可能です。

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB) ラインナップ

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB) ラインナップ

製品一覧

FIB

JIB-PS500i FIB-SEMシステム

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JIB-4700F 複合ビーム加工観察装置

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FIB オプション

CRYO-FIB-SEM

CRYO-FIB-SEM CryoLameller

OmniProbe 350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター

OmniProbe 350 FIB-SEM試料室内ナノマニピュレーター

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS

IB-07080ATLPS, IB-77080ATLPS自動TEM薄膜作製システムSTEMPLING

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