2017/08/07

走査電子顕微鏡ではインターネットを利用した実機でのライブデモンストレーションや、世界初のマルチビーム方式によるマスク製作用電子ビーム描画装置など評価/リソグラフィーを行う製品の紹介を行います。
ご多忙中とは存じますが、この機会にぜひご来場頂きます様、謹んでご案内申し上げます。

主催:SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International)
公式サイト

開催日/会場

  • 日程:
    2017年12月13日(水)~12月15日(金)
  • 会場:
    東京ビックサイト(東展示棟、会議棟)
    〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1
  • 交通・アクセス:
    アクセスマップ

展示内容

故障解析・プロセス開発用途製品

リソグラフィー

走査電子顕微鏡デモンストレーションのご案内

本社ショールームにあるJSM-7900FおよびJSM-IT500HRと会場をインターネットで繋ぎ、実機でのライブデモンストレーションを行います。
下記の時間で自由に受け付けております。気軽にお声がけ頂き、操作性・性能などをぜひご体感ください。

実施日/時間 対象機種
12月13日(水)・12月14日(木)
10:00~12:00、13:30~15:00、15:30~17:00
JSM-IT500HR InTouchScope™ 走査電子顕微鏡
12月15日(金)
10:00~12:00、13:30~15:00、15:30~17:00
JSM-7900F ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

粗品(ノベルティ)のご案内

理科学・計測機器ユーザーの方に!!試料保持用のピンセットまたは今治タオル(ハンドタオル)をプレゼント致します。

引き換え券はこちらから

※数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。
会期中にどちらかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。
会期中にダウンロードした粗品引換券をプリントアウトし、日本電子ブース受付までお持ちください。

お問い合わせ

日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部
担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
TEL: 03-6262-3560・FAX: 03-6262-3577