2017/09/04
このたび、日本電子株式会社と株式会社リガクの共催により「JEOL・リガクジョイントセミナー~高分子材料評価の分析技術~」を開催いたします。 本セミナーでは高分子材料の分析手法ならびに分析事例のご紹介の他、今年度のJASIS展で発表予定の両社新製品についてもご紹介をさせていただきます。
時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでお願い申し上げます。今後ともご愛願賜りますよう、心よりお願い申し上げます。
 

主催: 日本電子株式会社・株式会社リガク

開催日/会場

  • 日程:
    2017年9月28日(木) 13:20~17:10 (受付開始12:50より)
  • 会場:
    CIVI研修センター新大阪東 E-604号室
    大阪市東淀川区東中島1-19-4
    地図

お申し込み

  • 参加費:
    無料 (事前登録制)
  • 定員:
    60名 (先着順)
  • お申し込み方法:
    こちらのフォーム からお申込み下さい。(株式会社リガクのWEBサイトへリンクしております。)
    ※ 会場の都合上、定員となり次第、申し込みを締め切らせて頂きます。予めご了承の程お願い申し上げます。
  • 受付期間:
    8月28日(月)から9月26日(火)まで

プログラム

12:50 受付
13:20~14:00 高分子材料を観る
日本電子株式会社 SM事業ユニット リーダー 金子 剛
14:00~14:20 各種機能ホルダーによる多機能化を実現! 新しいクロスセクションポリッシャ™の紹介
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター 主務 田中 章泰
14:20~15:00 熱分析の高分子材料評価 ~最新熱分析での新しいアプリケーション~
株式会社リガク 熱分析機器事業部 熱応用技術課課長 益田 泰明
15:00~15:20 ( 休憩 )
15:20~16:00 X線による高分子材料評価 ~小角X線散乱のアプリケーションご紹介~
株式会社リガク X線機器事業部 PDX 小角グループ グループマネージャー 伊藤 和輝
16:00~16:20 最新型X線回折装置他、新機種ご紹介
株式会社リガク 大阪支店 樋川 藤人
16:20~17:00 各種分析機器の高分子塗料への応用
~TEM, SEM, NMR, MS, XPS, FT-IRを用いた漆のキャラクタリゼーション~

日本電子株式会社 アプリケーション統括室 スペシャリスト 新村 典康
17:00~17:10 質疑応答
※ プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。

お問合せ

  • 株式会社リガク 大阪支店 高塚・浜田
    TEL: 072-696-3387・FAX: 072-694-5852
    E-mail: osk-www@rigaku.co.jp