2021/03/23

三次元的なCorrelative microscopy (CLEM)を行うための具体的な方法をご説明します。
登上線維に蛍光タンパク質を発現したマウスの小脳を共焦点顕微鏡 (OM)で撮影し、三次元的な情報を得ました。同部位を電子顕微鏡での撮影のために処理し、連続の超薄切片を作製しました。連続切片上の同一部位を撮影することにより、SEMで三次元的な情報が得ることができます。
Array tomographyと呼ばれる本手法を自動的に行うためのソフトウェアであるArray tomography supporterを用いて、連続切片のSEM像を撮影しました。OM像とSEM像の位置合わせを行い、両方で観察できる登上線維上の同一部位を特定した後、SEM像からDeep learningと手動での修正を用いて登上線維をセグメンテーションしました。これらにより、登上線維の三次元的なCLEMを実現しました。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • 蛍光ラベルした部位を光学顕微鏡で観察し、同一部位を電子顕微鏡で三次元的に観察する方法

"参加いただきたいお客様"

  • バイオ分野でCLEMに興味をお持ちのお客様
  • バイオ向けTEMのユーザー
  • バイオ向けコンフォーカル顕微鏡のユーザー

講演者:

須賀 三雄

日本電子株式会社
アプリケーション統括室

講演者

開催日/詳細

  • 2021年4月23日 (金) 16:00~17:00
    講演後に質疑応答の時間があります。

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参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。