2019/08/08

公益社団法人 日本食品科学工学会 第66回大会に出展いたします。
弊社は卓上走査電子顕微鏡の実機展示をはじめ、最新の製品や分析手法、受託分析をご紹介するパネルやカタログを展示します。
また、8月31日(土曜日)12:00~12:50に「最新卓上走査電子顕微鏡と食品の解析事例のご紹介」と題したランチョンセミナーを開催し、最新卓上SEMを用いたアプリケーション事例を口頭発表でご紹介いたします。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

詳細は以下のリンクをご確認ください。
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsfst66/top

主催:公益社団法人 日本食品科学工学会

開催日/会場

  • 日程:
    2019年8月29日(木)~8月31日(土)
  • 会場:
    藤女子大学北16条キャンパス
    〒001-0016 札幌市北区北16条西2丁目
    地図

お申し込み

ご参加に関する概要は、大会公式ホームページをご覧下さい。
https://confit.atlas.jp/guide/event/jsfst66/top

展示内容

実機展示

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡
 

パネル展示

JCM-7000 NeoScope™ ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡で食品試料をSEMで取得した事例
受託分析、低真空冷却ホルダーでの分析ご紹介
JCM-7000

ランチョンセミナー

「最新卓上走査電子顕微鏡と食品の解析事例のご紹介」

日時:8月31日(土曜日)12:00~12:50
会場: 藤女子大学北16条キャンパス 本館7F 751講義室 (M会場)
 
  • 「最新卓上走査電子顕微鏡JCM-7000のご紹介」
    日本電子株式会社 科学・計測機器営業本部 SI販促室 Scanning系グループ 野村 朋子
  • 「電子顕微鏡を用いた食品の解析事例」
    日本電子株式会社 サービス企画推進本部 R&D推進部 講習グループ 講習チーム 中山 智香子

口頭発表

「新開発卓上SEMによる凍結法を用いたチーズの迅速かつ簡便な測定手法」
EP事業ユニットEPアプリケーション部 SEMチーム 中嶌香織、他
日時:8月31日(土曜日)9:00~9:15
会場: 藤女子大学北16条キャンパス 本館3F 353講義室

お問合せ

日本電子株式会社 
科学・計測機器営業本部
TEL: 03-6262-3567