定期刊行物　JEOL NEWS・日本電子ニュース

日本電子news
Vol.58 No.1, 2026
PDF: 33.4 MB

Contents

透過電子顕微鏡の電子ビーム空間干渉性測定および電子源軸上輝度測定法の開発
山﨑 順1,2、畑中 修平1
1 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター　2 名古屋大学 未来材料 · システム研究所

筑波大学における共同利用型3D ED/MicroEDの立ち上げ· 運用· 成果
安達 成彦1,2、原田 彩佳1、岩崎 憲治1
1 筑波大学 · 生存ダイナミクス研究センター　2 日本電子(株) ソリューション開発センター

文化財における微細構造の電子顕微鏡を用いた研究
北田 正弘
東京藝術大学（名誉教授）

核磁気共鳴分光法を用いた非晶質アルミナの構造解析
橋本 英樹
1 工学院大学先進工学部応用化学科　2 物質 · 材料研究機構　3 JSTさきがけ（未来材料）

新型収差補正器を用いた電磁的晶帯軸合わせによる高分解能STEM像取得方法の検討
鯉渕 航、 佐川 隆亮
日本電子（株） SI事業部門 EM事業ユニット

未知試料のナノ結晶構造解析:3D電子回折、高分解能MS、NMR、計算科学の統合
西山 裕介
日本電子(株) ソリューション開発センター

走査電子顕微鏡の全自動化への挑戦-Neo Action Roboによる試料交換と測定の自動化-
名越 達郎、井上 雅行、岡野 康之
日本電子（株） SI事業部門 EP事業ユニット

In-situ 充放電システムの開発と電池アプリケーションの紹介
木村 達人、山本 康晶
日本電子（株） SI事業部門 EP事業ユニット

エントリーモデルSEMにおける結晶方位解析の拡張
小島 洋平1、馬場 洋樹2
1 日本電子(株)　2 ブルカージャパン(株)

電子分光システム(f-HSA)の開発と高速スペクトルイメージングへの応用
田口 昇1、内田 達也1、鍋島 冬樹1、伊木田 木の実1、田中 章泰2、横内 和城1、大濱 敏之1、堤 建一1
1 日本電子(株) SI事業部門 SA事業ユニット　2 日本電子(株) ソリューション開発センター

小型マイクロ波光源を用いた極低温固体DNP-NMR装置の開発
高橋 大樹
日本電子(株) SI事業部門 NM事業ユニット

GC×GC-TOFMSと未知物質構造解析ソフトウェアmsFineAnalysis AIを用いたHeLa 細胞代謝物の解析
窪田 梓、 久保 歩
日本電子(株) SI事業部門 MS事業ユニット

JEOL NEWS
Vol.60 No.1, 2025
PDF: 23.0 MB

Contents

The Crucial Role of the Electron Microprobe in Solving Micro-Analytical Problems in Earth Sciences and Archaeometry

Jürgen Konzett, Bastian Joachim-Mrosko, Roland Stalder, Peter Tropper, Martina Tribus

University of Innsbruck, Institute of Mineralogy and Petrography

Three-Dimensional Digital Structural Analysis of Olfactory Neural Circuits ~ Exploring possibilities of biological analyses by electron microscopy ~

Kazunori Toida^1,2 Haruyo Yamanishi¹, Emi Kiyokage³

¹ Department of Anatomy, Kawasaki Medical School
² Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University
³ Department of Medical Technology, Kawasaki University of Medical Welfare

Novel Cellular Structures and Physiological Traits of Novel Phyla Bacteria Revealed by Cryo-Electron Microscopy

Taiki Katayama

Research Institute for Geo-Resources and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

X-ray and Electron-Beam Analyses for Teeth of Chiton Accumulating Iron at High Concentrations

Chiya Numako¹, Seiichi Takami², Shiori Kamijo³, Takeshi Otsuka³, Yusuke Sakuta³, Shunsuke Asahina³

¹ Chiba University, Graduate School of Science, ² Nagoya University, Graduate School of Engineering, ³ JEOL Ltd.

Time-Resolved ESR Method for Observing Rapid Radical Reactions

Atsushi Kajiwara

Nara University of Education

JEM-120i, a 120 kV Transmission Electron Microscope with Compact Appearance and Ease of Use -Its Features and Applications-

Haruka Aoki

EM Business Unit, JEOL Ltd.

Progressing From Easy to Automatic - Overcoming Challenges of Automation with the Latest FE-SEM JSM-IT810 -

Hironobu Niimi, Tatsuro Nagoshi, Noriyuki Inoue

EP Business Unit, JEOL Ltd.

Development of a Large Solid-Angle Windowless EDS Detector "Gather-X" Used with a Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)

Kota Yanagihara

EX Business Unit, JEOL Ltd.

Introduction of the New Cryo-FIB-SEM "CryoLameller"

Rintaro Kawano¹, Wataru Shigeyama², Hideki Matsushima¹, Naoki Hosogi³, Chikako Nakayama⁴, Katsuyuki Suzuki⁴, Noriaki Mizuno¹

¹ EP Business Unit, JEOL Ltd. ² JEOL USA, Inc. ³ EM Business Unit, JEOL Ltd. ⁴ Solution Development Center, JEOL Ltd.

Advancement of Technological Development of an Electron Beam Metal 3D Printer JAM-5200EBM

Masahiko Iida, Ayumi Miyakita, Kozo Koiwa, Nari Tsutagawa, Yohei Daino, Satoshi Ono, Takashi Sato

IS Business Unit, JEOL Ltd.

Introduction of JEOL Products