定期刊行物 JEOL NEWS・日本電子ニュース
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最新号
Applications
OBF STEMによる電子線敏感材料の低ドーズ原子分解能観察
大江 耕介1,2、関 岳人2,3、河野 祐二4、中村 明穂4、 幾原 雄一1,2、柴田 直哉1,2
1 ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 2 東京大学大学院工学系研究科総合研究機構 3 JSTさきがけ 4 日本電子株式会社
オレフィン重合触媒および生成ポリマー評価のための高度分析
齋藤 雅由1、片岡 拓雄1、村田 昌英2、中島 雄平3、増子 倫也3、山田 浩之3、髙橋 秀之3
1 東邦チタニウム株式会社 2 元東邦チタニウム株式会社 3 日本電子株式会社
183W核の溶液NMR測定から始まった多核NMRへの取り組み
押木 俊之
岡山大学
汎用TEM(JEM-F200)と種々のアタッチメント機器を組合わせることで得られる様々なアプリケーション例の紹介
福永 啓一
日本電子株式会社 EM事業ユニット
マルチパーパスFIB-SEM JIB-PS500iによるTEM試料作製
門井 美純、倉本 建、柴田 昌照、鈴木 修、大堀 祐一郎
日本電子株式会社 EP事業ユニット
AI (人工知能) を用いた構造解析機能を搭載したJMS-T2000GC専用解析ソフトウェア msFineAnalysis AI
久保 歩
日本電子株式会社 MS事業ユニット
蛍光X線分析法による低真空液体カプセルを用いたHeレスでの軽元素分析
衣笠 元気1、村谷 直紀1、小野寺 浩2
1 日本電子株式会社 SA事業ユニット 2 日本電子株式会社 EP事業ユニット
製品紹介
Applications
Revealing the Latent Atomic World Through Data-Driven Microscopy
Steven R. Spurgeon1, 2, Kayla Yano1, Christina Doty3, Sarah Akers3, and Matthew Olszta1
1 Energy and Environment Directorate, Pacific Northwest National Laboratory
2 Department of Physics, University of Washington
3National Security Directorate, Pacific Northwest National Laboratory
Imaging Zeolite Architecture by High Resolution Scanning Electron Microscopy:
When Physical and Chemical Etching Meet
Zhengxing Qin, Ye Wang1, Natsuko Asano2, Yanfeng Shen1, Valentin Valtchev3,
Shunsuke Asahina2 and Svetlana Mintova1, 3
1 China University of Petroleum (East China), 2 JEOL Ltd.,
3 Normandie Univ, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, Laboratoire Catalyse et Spectrochimie
Low-Dose Atomic-Resolution Observation of Beam-Sensitive Materials via OBF STEM Imaging Technique
Kousuke Ooe1, 2, Takehito Seki2, 3, Yuji Kohno4, Akiho Nakamura4, Yuichi Ikuhara1, 2, Naoya Shibata1, 2
1 Nanostructures Research Laboratory, Japan Fine Ceramics Center 2 Institute of Engineering Innovation, the School of Engineering, the University of Tokyo
3 PRESTO, Japan Science and Technology Agency 4 JEOL Ltd.
Advanced Analytical Methods for the Evaluations of Olefin Polymerization Catalysts
and Produced Polymers
Masayoshi Saito1, Takuo Kataoka1, Masahide Murata2,
Yuhei Nakajima3, Rinya Masuko3, Hiroyuki Yamada3, Hideyuki Takahashi3
1 TOHO TITANIUM CO., LTD. 2 former TOHO TITANIUM CO., LTD. 3 JEOL Ltd.
A Practical Method for the Measurement of 183W NMR Signals in Solution:
Challenge to Multinuclear Solution NMR
Toshiyuki Oshiki Okayama University
Introduction of Various Application Examples Obtained by
Multi-Purpose TEM (JEM-F200) with Various Attachments
Kei-ichi Fukunaga EM Business Unit, JEOL Ltd.
TEM Sample Preparation Using JIB-PS500i and Multi-Purpose FIB-SEM
Misumi Kadoi, Tatsuru Kuramoto, Masateru Shibata, Osamu Suzuki, and Yuichiro Ohori
EP Business Unit, JEOL Ltd.
msFineAnalysis AI Novel Qualitative Analysis Software for JMS-T2000GC with
AI Structural Analysis
Ayumi Kubo MS Business Unit, JEOL Ltd.
He-less Light Element Analysis Using a Low-Vacuum Liquid Sample Capsule by
X-ray Fluorescence Spectrometry
Genki Kinugasa1, Naoki Muraya1 and Hiroshi Onodera2
1 SA Business Unit, JEOL Ltd. 2 EP Business Unit, JEOL Ltd.
