定期刊行物　JEOL NEWS・日本電子ニュース

日本電子news
Vol.57 No.1, 2025
PDF: 25.0 MB

Contents

嗅覚系神経回路の三次元デジタル構造解析 ～電子顕微鏡による解析の可能性を求めて～
樋田 一徳1,2
1 川崎医科大学 解剖学　2 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター

クライオ電子顕微鏡観察から見えてくる新門バクテリアの新奇な細胞構造と生理性質
片山 泰樹
産業技術総合研究所･地圏資源環境研究部門

鉄を高濃度に蓄積したヒザラガイの歯に対するX線分析および電子線分析
沼子 千弥1、髙見 誠一2、上條 栞3、大塚 岳志3、作田 裕介3、朝比奈 俊輔3
1 千葉大学大学院 理学研究院　2 名古屋大学大学院 工学研究科　3 日本電子（株）

miXcroscopy™ for EPMAの宇宙地球惑星物質科学への活用
吉田 英人
東京大学大学院 理学系研究科 地球惑星科学専攻

高速ラジカル反応を観測するための時間分解ESR法
梶原 篤
奈良教育大学

コンパクトな外観と使いやすさを実現した120 kV透過電子顕微鏡 JEM-120iの特長とアプリケーション例
青木 遥
日本電子（株） EM事業ユニット

「簡単」から「自動」へ -最新FE-SEM JSM-IT810 自動化への挑戦-
新美 大伸、名越 達郎、井上 雅行
日本電子（株） EP事業ユニット

FE-SEM用大立体角ウィンドウレスEDS検出器 "Gather-X"の開発
柳原 孝太
日本電子（株） EX事業ユニット

新型IoTクロスセクションポリッシャ™の紹介
木村 達人、長谷部 祐治
日本電子(株) EP事業ユニット

新しいCryo-FIB-SEM「CryoLameller」の紹介
河野 林太郎1、繁山 航2、松島 英輝1、細木 直樹3、中山 智香子4、鈴木 克之4、水野 議覚1
1 日本電子(株) EP事業ユニット　2 JEOL USA, Inc.　3 日本電子(株) EM事業ユニット　4 日本電子(株) ソリューション開発センター

電子ビーム金属3Dプリンタ JAM-5200EBMにおける技術開発状況の紹介
飯田 雅彦、 宮北 歩、 小岩 康三、 蔦川 生璃、 台野 洋平、 大野 悟史、 佐藤 崇
日本電子（株） IS事業ユニット

JEOL NEWS
Vol.60 No.1, 2025
PDF: 23.0 MB

Contents

The Crucial Role of the Electron Microprobe in Solving Micro-Analytical Problems in Earth Sciences and Archaeometry

Jürgen Konzett, Bastian Joachim-Mrosko, Roland Stalder, Peter Tropper, Martina Tribus

University of Innsbruck, Institute of Mineralogy and Petrography

Three-Dimensional Digital Structural Analysis of Olfactory Neural Circuits ~ Exploring possibilities of biological analyses by electron microscopy ~

Kazunori Toida^1,2 Haruyo Yamanishi¹, Emi Kiyokage³

¹ Department of Anatomy, Kawasaki Medical School
² Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University
³ Department of Medical Technology, Kawasaki University of Medical Welfare

Novel Cellular Structures and Physiological Traits of Novel Phyla Bacteria Revealed by Cryo-Electron Microscopy

Taiki Katayama

Research Institute for Geo-Resources and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

X-ray and Electron-Beam Analyses for Teeth of Chiton Accumulating Iron at High Concentrations

Chiya Numako¹, Seiichi Takami², Shiori Kamijo³, Takeshi Otsuka³, Yusuke Sakuta³, Shunsuke Asahina³

¹ Chiba University, Graduate School of Science, ² Nagoya University, Graduate School of Engineering, ³ JEOL Ltd.

Time-Resolved ESR Method for Observing Rapid Radical Reactions

Atsushi Kajiwara

Nara University of Education

JEM-120i, a 120 kV Transmission Electron Microscope with Compact Appearance and Ease of Use -Its Features and Applications-

Haruka Aoki

EM Business Unit, JEOL Ltd.

Progressing From Easy to Automatic - Overcoming Challenges of Automation with the Latest FE-SEM JSM-IT810 -

Hironobu Niimi, Tatsuro Nagoshi, Noriyuki Inoue

EP Business Unit, JEOL Ltd.

Development of a Large Solid-Angle Windowless EDS Detector "Gather-X" Used with a Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)

Kota Yanagihara

EX Business Unit, JEOL Ltd.

Introduction of the New Cryo-FIB-SEM "CryoLameller"

Rintaro Kawano¹, Wataru Shigeyama², Hideki Matsushima¹, Naoki Hosogi³, Chikako Nakayama⁴, Katsuyuki Suzuki⁴, Noriaki Mizuno¹

¹ EP Business Unit, JEOL Ltd. ² JEOL USA, Inc. ³ EM Business Unit, JEOL Ltd. ⁴ Solution Development Center, JEOL Ltd.

Advancement of Technological Development of an Electron Beam Metal 3D Printer JAM-5200EBM

Masahiko Iida, Ayumi Miyakita, Kozo Koiwa, Nari Tsutagawa, Yohei Daino, Satoshi Ono, Takashi Sato

IS Business Unit, JEOL Ltd.

Introduction of JEOL Products