定期刊行物　JEOL NEWS・日本電子ニュース

日本電子news
Vol.58 No.1, 2026
PDF: 33.4 MB

Contents

透過電子顕微鏡の電子ビーム空間干渉性測定および電子源軸上輝度測定法の開発
山﨑 順1,2、畑中 修平1
1 大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター　2 名古屋大学 未来材料 · システム研究所

筑波大学における共同利用型3D ED/MicroEDの立ち上げ· 運用· 成果
安達 成彦1,2、原田 彩佳1、岩崎 憲治1
1 筑波大学 · 生存ダイナミクス研究センター　2 日本電子(株) ソリューション開発センター

文化財における微細構造の電子顕微鏡を用いた研究
北田 正弘
東京藝術大学（名誉教授）

核磁気共鳴分光法を用いた非晶質アルミナの構造解析
橋本 英樹
1 工学院大学先進工学部応用化学科　2 物質 · 材料研究機構　3 JSTさきがけ（未来材料）

新型収差補正器を用いた電磁的晶帯軸合わせによる高分解能STEM像取得方法の検討
鯉渕 航、 佐川 隆亮
日本電子（株） SI事業部門 EM事業ユニット

未知試料のナノ結晶構造解析:3D電子回折、高分解能MS、NMR、計算科学の統合
西山 裕介
日本電子(株) ソリューション開発センター

走査電子顕微鏡の全自動化への挑戦-Neo Action Roboによる試料交換と測定の自動化-
名越 達郎、井上 雅行、岡野 康之
日本電子（株） SI事業部門 EP事業ユニット

In-situ 充放電システムの開発と電池アプリケーションの紹介
木村 達人、山本 康晶
日本電子（株） SI事業部門 EP事業ユニット

エントリーモデルSEMにおける結晶方位解析の拡張
小島 洋平1、馬場 洋樹2
1 日本電子(株)　2 ブルカージャパン(株)

電子分光システム(f-HSA)の開発と高速スペクトルイメージングへの応用
田口 昇1、内田 達也1、鍋島 冬樹1、伊木田 木の実1、田中 章泰2、横内 和城1、大濱 敏之1、堤 建一1
1 日本電子(株) SI事業部門 SA事業ユニット　2 日本電子(株) ソリューション開発センター

小型マイクロ波光源を用いた極低温固体DNP-NMR装置の開発
高橋 大樹
日本電子(株) SI事業部門 NM事業ユニット

GC×GC-TOFMSと未知物質構造解析ソフトウェアmsFineAnalysis AIを用いたHeLa 細胞代謝物の解析
窪田 梓、 久保 歩
日本電子(株) SI事業部門 MS事業ユニット

JEOL NEWS
Vol.61 No.1, 2026
PDF: 27.1 MB

Contents

Nanoscale Positioning Highly Coherent Spin Defects in Diamond Using JBX-8100FS

Sunghoon Kim¹, Paz London¹, Daipeng Yang¹, Lillian B. Hughes¹, Jeffrey Ahlers¹, Simon Meynell¹, William J. Mitchell², Kunal Mukherjee3 & Ania C. Bleszynski Jayich¹

¹ Department of Physics, University of California, Santa Barbara, ² Nanofabrication Facility, University of California, Santa Barbara, ³ Department of Materials Science and Engineering, Stanford University

Development of a Semi-Automated 3D ED/MicroED System and Its Operation as a Shared-Use Facility

Naruhiko Adachi^1,2, Ayaka Harada1, Kenji Iwasaki¹

¹ TARA, University of Tsukuba ² Solution Development Center, JEOL Ltd.

Structural Analysis of Amorphous Alumina Using Nuclear Magnetic Resonance Spectroscopy

Hideki Hashimoto

¹ Department of Applied Chemistry, School of Advanced Engineering, Kogakuin University ² National Institute for Materials Science (NIMS) ³ JST PRESTO (Future Materials)

High-Resolution STEM Image Acquisition Method for Tilted Specimen Using a New Type of Aberration Corrector

Wataru Koibuchi, Ryusuke Sagawa

EM Business Unit, SI Business Operations, JEOL Ltd.

Structure Solution of Nano-Crystalline Powder: A YOKOGUSHI Approach of SynergyED, HRMS, NMR, and Computation

Yusuke Nishiyama

Solution Development Center, JEOL Ltd.

Toward Full Automation of Scanning Electron Microscopy: Automating Specimen Exchange and Measurement with Neo Action Robo.

Tatsuro Nagoshi, Noriyuki Inoue, Yasuyuki Okano

EP Business Unit, SI Business Operations, JEOL Ltd.

Introduction of In-situ Charge-Discharge Cycle System and Battery Application

Tatsuhito Kimura, Yasuaki Yamamoto

EP Business Unit, SI Business Operations, JEOL Ltd.

Expansion of Crystal Orientation Analysis in Entry-Level SEM

Yohei Kojima¹ and Hiroki Baba²

¹ JEOL Ltd. ² Bruker Japan K.K.

Development of an Electron Spectroscopy System (f-HSA) and Its Application to High-Speed Spectrum Imaging

Noboru Taguchi¹, Tatsuya Uchida¹, Fuyuki Nabeshima¹, Konomi Ikita¹, Akihiro Tanaka², Kazushiro Yokouchi¹, Toshiyuki Ohama¹, Kenichi Tsutsumi¹

¹ SA Business Unit, SI Business Operations, JEOL Ltd. ² Solution Development Center, JEOL Ltd.

Development of an Ultra-Low Temperature Solid-State DNP-NMR System Using a Compact Microwave Source

Hiroki Takahashi

NM Business Unit, SI Business Operations, JEOL Ltd.

Analysis of Metabolites in HeLa Cells Using GC×GC-TOFMS and Unknown Compounds Structure Analysis Software msFineAnalysis AI

Azusa Kubota, Ayumi Kubo

MS Business Unit, SI Business Operations, JEOL Ltd.