汎用TEMを用いたMicroEDの取得方法とアプリケーション
公開日： 2023/06/08
MicroEDは、単結晶試料の連続傾斜電子回折パターンを解析することにより3次元構造を得る手法です。近年、検出器の性能が向上したことにより低い電子照射量で電子回折パターンが取得できるようになったことにより、電子線照射に弱い低分子化合物なども構造解析できるようになってきました。本発表では、汎用TEMを用いたMicroEDの取得方法とアプリケーションを紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
MicroED/3DEDの原理
MicroED/3DEDの取得方法
参加いただきたいお客様
X線構造解析をしている方
NMRユーザー
講演者
青山 佳敬
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
2023年7月14日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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