透過電子顕微鏡における粒子解析のための自動測定機能
公開日： 2023/07/19
粒子解析は、粒子や粒子集合体の形状や大きさ、化学組成を測定する手法の一つです。
電子顕微鏡を用いた粒子解析では、主に走査電子顕微鏡が使用されていますが、粒子の大きさが数um以下の場合、透過電子顕微鏡(TEM)が有用です。
しかしながら、TEMでは、一度に観察できる視野が小さいため、多視野での測定が必須です。
本ウェビナーでは、多視野連続観察の自動機能を用いたTEMによる粒子解析の測定例や解析方法について紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
粒子解析について
透過電子顕微鏡を用いた粒子解析のアプリケーション
SIF社製autopilot、muiti image toolの粒子解析への適用例
参加いただきたいお客様
普段粒子解析を行っているが、電子顕微鏡を使用したことが無い方
SEMを用いて粒子解析を行っており、空間分解能が十分でないと感じている方
透過電子顕微鏡の自動測定機能に興味がある方
講演者
島 政英
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
2023年8月18日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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