vEMセミナー ～これからはじめるアレイトモグラフィー～（昭島/東京会場）
公開日： 2026/03/12
近年、電子顕微鏡を用いて3次元観察を行うボリュームEM(vEM)と呼ばれる技術が注目を浴びています。日本電子ではvEM観察に対応した装置群やアプリケーションを提供しています。今回は、その中でもSEMを用いた連続切片法（Array tomography）について、概論から試料作製、装置操作、3次元構築まで装置実機を用いた実演を踏まえて説明します。
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開催日 |
2026年6月19日(金) 13:00～16:30 (受付開始 12:30～) |
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会場 |
日本電子株式会社 本社・昭島製作所 開発館 |
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参加費 |
無料 |
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定員 |
10名 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。) |
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お問い合せ |
日本電子株式会社
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講演/実演内容
本セミナーでは樹脂包埋した生物試料を用いて講習を行います。当日の講演/実演内容の概略は以下の通りです。
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Array tomograhy概論（講習）
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連続切片作製（使用装置：ミクロトーム）
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SEMによるデータ取得（使用装置：JSM-IT800）
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再構成ソフトを用いた再構成（使用ソフト："Stack N Viz"）
ご参加いただきたいお客様
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アレイトモグラフィーに興味があり、これから始めてみたいSEMユーザー
タイムテーブル
| 時間 | 講演/実演内容 |
|---|---|
| 13：00～14：00 |
講演1 連続切片法（アレイトモグラフィ）の紹介 アレイトモグラフィ法のワークフローは大きく、連続切片サンプルの作製、連続切片サンプルの観察、連続撮像データの3次元解析の3つに分けられます。ここでは、それぞれのワークフローについて解説させていただきます。 |
| 14：00～14：40 |
実演1 ウルトラミクロトームを用いた連続切片作製 アレイトモグラフィ法は基本的にSEMさえあればできる導入コストの低さでも優秀な解析手法ですが、 一方で試料作製法は煩雑で苦労されているお客様も多いと思います。 ここでは、実際にウルトラミクロトームを用いて連続切片を作製のフローを見ていただきながら、連続切片を作製する際のコツやノウハウについて紹介します。 |
| 14：40～15：00 |
休憩 |
| 15：00～15：30 |
実演2 FE-SEM JSM-IT800シリーズを用いた連続切片自動観察 「Array Tomography Supporter」は、アレイトモグラフィの連続切片自動観察専用に開発されたソフトウェアです。 ユーザーフレンドリーなGUI上で、「観察位置の指定」が簡単にでき、指定した箇所を自動観察することができます。 本講習では、FE-SEMである JSM-IT800シリーズを用いて、実際に「Array Tomography Supporter」の動作を見ていただきます。 |
| 15：30～16：00 |
実演3 再構成ソフト“Stack n Viz”を用いたアライメントと三次元再構成 システムインフロンティア (SIF) 社製ソフトウェア "Stack n Viz" は、"Stacker" と "Visualiser"によって構成されています。 "Stacker" ではアライメント（位置合わせ）、関心領域の選択などを行い、再構成データを作成します。 "Visualiser" は再構成データの専用のビューワになります。SEMで取得した連続スライス像からボリュームレンダリング像を再構成する過程を実演します。 |
| 16：00～16：20 |
質疑応答 |
お申し込み方法
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