JES-X3シリーズ新機能　連続測定パラメーターのフレキシブル設定

JES-X3シリーズの新機能である、フレキシブルな連続測定パラメーター設定法をご紹介します。
ESR測定条件を決定したり時間変化を測定したりする際に、パラメーターを変更しながら自動連続測定を行うSequential Measurementは大変便利な機能です。
従来は、ここで設定できるパラメーターの変更幅は一定でしたが、JES-X3シリーズではパラメーターの変更幅を変えることが可能です。

図1にマイクロ波出力の変更例を示しました。
スペクトル強度はマイクロ波出力の平方根に比例するので、効率よくマイクロ波特性を調べるためには高出力領域で変更幅を大きくします。JES-X3シリーズでは図のように、一連の測定内で0.04mW、0.1mW、0.5mWと変更幅を変えることができます。従来機であればこの範囲の測定で約50のスペクトルが得られ、それらを解析することが必要でしたが、JES-X3シリーズでは11のスペクトルで解析ができます。得られたスペクトルを図2に示しました。赤で示した○内で、マイクロ波の飽和を表す一つの指標であるブロードニングが認められているのが分かります。この機能により、従来よりも短時間かつ少ないデータでマイクロ波飽和挙動を把握することが可能となります。

図1　マイクロ波出力の連続測定設定例　/　図2　出力の増加幅を変更して測定したスペクトル

変化量の設定を一定の倍率で変更することも可能となりました。図1の緑の□内に倍率を入力します。マイクロ波の飽和を観測する際には4と入力すれば、掃引ごとに出力を4倍に変更して測定しますので、飽和特性の概要を把握するデータを1回の評価で得ることができます。
このような変更幅のフレキシブルな設定は、他のパラメーター設定でも有効です。温度可変装置ES-DVT5の温度コントロールでは、昇温後に引き続き降温することが可能ですので、熱履歴を観測することができるようになりました。

図3　インターバルタイム設定の新機能

更に、スペクトルの経時変化を測定する際には、掃引間にインターバルタイムを設定する場合があります。図1で示したINTERVALに時間間隔を入力して、一定時間ごとに測定することも可能ですが、初期の変化は早いが徐々に変化が遅くなると想定されるケースがあります。こうしたケースに対応するため、JES-X3シリーズでは図3で示したようにインターバルタイムを一次式で設定することが可能です。
以上のように、JES-X3シリーズでは連続測定の条件設定に多様性を持たせ、様々な測定に対応できるようにしました。よりスムーズなESR測定のためにお役にたつと期待されます。