走査プローブ顕微鏡 (SPM)
さまざまな材料表面の局所観察、物性評価に対応いたします
走査プローブ顕微鏡 (SPM )
は高倍率の形態観察が大気中で行え、試料の微小な高さ方向の数値計測が正確に行えます。
また、様々な物性測定機能により表面の電位分布、磁気力分布などの応用測定にも対応しています。
分析例
電子顕微鏡関係
科学・計測機器サービス事業部
受託グループ
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