GRANDARM™2と最新の観察、分析手法を用いたアプリケーションの紹介
公開日： 2022/04/19
本セミナーでは、世界最高レベルの分解能と分析能力を有したGRANDARM™2とin-situなどに使用できる新製品や、ダメージに弱いサンプルへの新しい観察や分析方法、時間分解能観察や分析など、今後主流となっていくであろう、新しい観察や分析方法を組み合わせたアプリケーションを紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- レーザー照射、時間分解能TEM、OBFなど今後主流になっていくであろう新しい観察や分析手法を学べます
- ダメージに弱いサンプルへの新しい観察方法や分析手法を提案します
- 従来の観察や分析手法に囚われない新しい知見が得られると思われます
"参加いただきたいお客様"
- 電子線ダメージが入りやすく、観察や分析に困っている方
- 新しい観察や分析方法に興味がある方
- 時間分解能観察や分析、in-situの知見を得たい方
講演者
橋口 裕樹
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
- 2022年6月3日 (金) 16:00～17:00
- 講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
- 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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