正しいSXES分析データを得るための留意点
公開日： 2024/02/28
軟X線発光分光器で計測される発光スペクトルは、化学結合に寄与する価電子帯の電子状態密度の情報を主に反映し、その発光スペクトルが変化します。僅かなスペクトル変化を解析するためには、分析試料を正しく準備し、装置を正しい手順で使うことが重要です。本ウェビナーではSXES初級者オペレータが陥りやすい項目をピックアップし解説しますが、EPMA (電子プローブマイクロアナライザー) 分析などにも深く関連している内容となります。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
このウェビナーから学べること
軟X線発光分光の原理
軟X線発光分光の仕組み
軟X線発光分光器を用いた材料分析に必要な試料前処理や分析の設定方法
参加いただきたいお客様
軟X線発光分光器の初級オペレータの方
軟X線発光分光器に興味がある方
2023年12月に開催したSXESスクールBasicコースに都合で参加できなかった方
講演者
髙倉 優
SA事業ユニット
SA技術開発
第3グループ
開催日/詳細
2024年3月22日 (金) 16:00〜17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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