JXA-iHP200F フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー(FE-EPMA)

電子プローブマイクロアナライザーは、鉄鋼、自動車、電子部品、電池材料など、様々な産業分野で、研究開発や品質保証のツールとして活用され、ますますその用途を広げています。また、学術分野でも地球惑星科学や材料科学で広く使われており、鉱物等資源エネルギー研究や各種新素材の材料研究等、さまざまな最先端研究に貢献することが期待されています。それに応じて、高い局所微量元素分析のパフォーマンスは維持しつつ、誰もが "簡単" "迅速" に装置を使うことが求められています。

JXA-iHP200FとJXA-iSP100は、それらのニーズに応え、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。

* EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

特長

Setting

オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！

試料導入と試料ホルダーの光学像（ステージナビゲーション画像）取得をワンボタンで実行します。
ステージナビゲーション画像から分析視野を指定できます。

Analysis

充実したAuto機能により誰でも得られるハイグレードなSEM像
面倒な設定もすべてお任せかんたんEPMAですぐに元素分析

光学顕微鏡のAuto Focus機能と、高精度/高速化した新システムを搭載したSEMのAuto機能を組み合わせることで、誰でもハイグレードなSEM像が得られます。
「Live Analysis」により、観察中にスクリーニング分析ができます。初心者でもEPMAの操作ができる「かんたんEPMA」を用意しました。「EPMA-XRFインテグレーション」で、XRFのデータをもとに、EPMAの条件設定ができるようになりました。WD/EDインテグレーションで、分析時間の効率化を図ることができるようになりました。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像のインテグレーションで操作性が向上しました。

かんたんEPMAの設定画面とデータ表示

EDS Live Analysis

WD/EDインテグレーションによる分析時間短縮事例

インテグレーション：これらの装置で判定された元素はボタンひとつで分光結晶の組み合わせを設定します。

Self Maintenance

18種類の校正試料内蔵で効率的にキャリブレーション

「分光器校正機能」の搭載により、定期的な分光器キャリブレーションの作業軽減と、校正試料設定時の人的ミスを回避することができます。
夜間を利用した装置校正により効率化をはかれます。
「メンテナンス通知機能」により、必要な時期に確実にメンテナンスを行うことができるため、装置の状態が最良の状態に保たれます。