非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartI
公開日： 2025/01/14
※本ウェビナーにご興味を持っていただきありがとうございます。定員に達したため申し込みを締め切らせていただきました。
走査電子顕微鏡 (SEM) では、非導電性試料をそのまま観察すると、帯電 (チャージアップ) が起こるため、帯電対策が不可欠です。しかし、帯電の見分け方が分からない、対策を施しても帯電が抑制できないといった悩みを持つ方が多いのが現状です。
本ウェビナーでは、帯電の見分け方をはじめ、サンプリングと測定条件を中心に帯電対策における押さえるべきポイントを紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
関連ウェビナー
非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartII ～ケーススタディに基づく帯電対策～
非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartIII ～コーティング編～
このウェビナーから学べること
帯電の見分け方
帯電対策における押さえるべきポイント
非導電試料のSEM観察の進め方
参加いただきたいお客様
SEMを使い始めた方
非導電性試料をSEMで観察している方
帯電対策について知りたい方
講演者
松本 雄太
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
開催日/詳細
2025年2月25日 (火) 16:00 ～ 17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
