非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartII ～ケーススタディに基づく帯電対策～
公開日： 2025/01/17
本ウェビナーにご興味を持っていただきありがとうございます。定員に達したため申し込みを締め切らせていただきました。
SEMで導電性の低い試料をそのまま観察すると、帯電 (チャージアップ) が生じ、正常なコントラストが得られません。このような試料については帯電対策が不可欠ですが、観察目的や前処理の可否により、帯電対策が異なります。本セミナーでは、導電性の低い試料の観察事例をケーススタディ形式で紹介し、適切な帯電対策の選択について基本的な考え方を解説します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。
関連ウェビナー
非導電性試料に対するSEM観察の進め方 PartIII ～コーティング編～
このウェビナーから学べること
適切な帯電対策の選択についての基本的な考え方
非導電性試料のSEM観察におけるケーススタディ
帯電対策の選択に悩んだ時のアプローチ
参加いただきたいお客様
SEMを使い始めた方
電気を通さない試料をSEMで観察している方
帯電対策の選択について迷っている方
講演者
松本 雄太
日本電子株式会社
EP事業ユニット
EPアプリケーション部
開催日/詳細
2025年3月4日 (火) 16:00 ～ 17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
講演録画
後日講演録画を掲載します。掲載の際は弊社電子顕微鏡メールマガジンやSNSにてご案内をいたします。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
