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DIC株式会社

100年の信頼、次世代への挑戦 (TEM・SEM編)

印刷インキ(※)分野で世界トップシェアを誇るグローバル化学メーカー、DIC株式会社。100年以上の歴史を持ちながらも、常に新しい価値創造に挑戦し続けている企業です。千葉県佐倉市にある総合研究所は、環境と調和した次世代事業の創出を目指し、「色彩工学」「分散」「応用評価」「有機材料設計」「高分子設計」という基盤技術を進化させながら、「無機材料設計」「バイオ材料設計」という新たな領域にも挑戦しています。研究開発を支えるアドバンストリサーチセンター(ARC)では、ナノからマクロまでの階層構造に対応した多様な分析技術を駆使し、材料の機能解明や製品化に向けたプロセス開発を推進しています。

印刷インキ:印刷物に文字や画像を転写するために使用される着色材料。ボールペンなどの筆記用具に使用する場合はインク、印刷物に用いる場合はインキと呼ぶ傾向がありますが、基本的には同じものを指します。

その中で、TEM・SEM・NMRなどのJEOL製分析装置は、日々の観察・解析・構造評価に欠かせないツールとして活用されています。

今回は、TEM・SEMの導入背景や使用感、サービス対応について、実際に装置を使用されている研究者の皆様にお話を伺いました。

DIC総合研究所 導入製品:JSM-IT800, JEM-ARM300F, JEM-F200, JCM-7000, JNM-ECZL G

▼NMRの導入事例については、以下をご確認ください

100年の信頼、次世代への挑戦 (NMR編)

印刷インキ分野で世界トップシェアを誇るグローバル化学メーカー、DIC株式会社。100年以上の歴史を持ちながらも、常に新しい価値創造に挑戦し続けている企業です。その中で、TEM・SEM・NMRなどのJEOL製分析装置は、日々の観察・解析・構造評価に欠かせないツールとしてどのように活用されているのかお話を伺いました。

性能だけじゃない、使いやすさと誠実な対応が選定の決め手

―JEOLのTEMの印象はいかがですか

魚田様:近くJEM-F200 (TEM) を新しく導入予定で、その選定をしたのが川口さんと大坪さんです。

川口様:使う側として、装置に何かあったときに装置の状態や必要なパラメータがしっかり見られるようになっているのがありがたいと感じています。

大坪様:日本電子さんはこちらが要望を出すと応えてくれようと頑張ってくれるというのが印象としてあり、最終的には日本電子さんを選ばせていただきました。

川口様:装置の性能だけでなく、ソフトウェア、サービスなどが差別化のポイントになるのではないでしょうか。

魚田様:導入されたら、自動測定とかやってみたいですね。

―SEMの印象はいかがですか

藤野様:過去にJSM-7800Fの選定をさせていただきました。ソフトウェアが使いやすく、丈夫で壊れにくかった印象です。

―長くJEOL製品をご利用いただいていますが、最近の装置になってよかった点はありますか。

左から藤野様、大坪様

藤野様:SEMだと、真空引きがすごく早くなったと感じました。試料を入れて、気づいたらもう終わっているっていう。

大坪様:あとは安定性が上がったなと感じました。JSM-IT800を導入したときに、工場から運ばれてきてすぐでも、ほぼ安定して使えたのが良かったです。

左から魚田様、吉村様

吉村様:ユーザーインタフェースは大切だと思います。導線が右から左に流れていけば1つの作業が終わる、といったことや、直感的に分かるアイコンを採用するといったことですね。そういった点で御社の卓上SEMのななまるくん (JCM-7000) はすごくいいですよね。装置としての使い勝手ももちろん良いです。

ハイエンド装置が加速する研究開発サイクル

―装置はどのように活用されていますか

どのような試料を観察されていますか。

大坪様:無機から有機まで全般です。最近、TEMでは無機材料の方が多いですかね。

川口様:そうですね。有機系の材料に関しては JEM-ARM300Fで、試料へのダメージを低減させて観察できるようなOBF (*1) やEDM (*2) 等を導入させてもらっています。電顕が苦手としている部分ですが、DICとしては有機材料がメインなのでどんどん使っていきたいです。学会では既にOBFについての発表も結構されていますので、我々も乗り遅れないように追従していきたいと思います。

*1 OBF (最適明視野) 法: 近年開発された高感度の観察法。電子線に弱い試料や軽元素を含む試料の観察に適している

*2 EDM: 顕微鏡の安定性を保ったまま、電子線の試料への照射量を素早く、定量的にコントロールできるシステム

ーハイエンドの装置は非常に高額ですが、導入してよかったことはありますか

魚田様:ほぼ毎日稼働しており、自分たちで装置を持っているということは、研究開発サイクルを速く回すという点で非常に重要です。こういった装置を導入するために、装置の必要性や自社での有用性について、データを用いて上層部に説明しています。我々のお客様に説明する際にも、写真データは直感的に理解しやすいので重宝しています。

ーSEMに導入いただいたGather-X (*3)(EDS) はいかがでしょうか。

大坪様:私たちが観察する試料は有機系の材料が多く、軽元素を見るという用途で使わせていただいております。実際、検出感度が高くて驚いています。使いたい機能も一通りそろっていて十分だと感じました。

*3 Gather-X: JSM-IT800に搭載可能なEDS検出器。通常のEDSが苦手とする軽元素の分析を、ウィンドウレス化 (検出器を覆う窓材をなくす) によって高感度で実現している。

迅速・丁寧なサポート--JEOLのサービスが信頼される理由

ーサービス・アプリケーションについてはいかがでしょうか。

川口様

川口様:迅速に対応いただき、非常に助かっています。営業の方には、こちらから無理難題のようなお願いをすることもありますが「ここまではできます」「これはできません」と誠実に対応いただいていると感じます。こまめに連絡をいただけることも、向き合っていただいているなと感じるポイントです。

魚田様:不具合に対するサービスもだいたい1日くらいで迅速に対応いただいています。私は学生の頃も顕微鏡を触っていたので、その頃からお世話になっております。

吉村様:コロナの時期はできなかったですが、7-8年前からSEMの技術交流会をJEOLのアプリケーション部門の方にしていただいています。困りごとを直接相談できる機会があることに加え、SEMは総合研究所だけでなくどこの工場にも入っているので、得られた情報を工場間で共有して広く活用できるのも嬉しいです。そうした意味でも技術的に手厚くサポートいただいていると感じます。

写真左から 魚田様、笠井様、大坪様、川口様、藤野様、吉村様

※本記事につきましては第40期KF委員会Aチーム取材活動によるものです

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