CPによる断面試料作製
クロスセクションポリッシャ™
断面方向からの解析に必要なサンプル作製が可能です。
平滑な断面を、物理的ダメージを与えることなく加工できるため、チャネリングコントラストの解析にも優れています。
硬い材料と軟らかい材料の接合部等、従来の機械研磨で困難な試料の断面作製に適しています。
広い面(500 μm以上)の観察面が確保できます。
対象となる観察・分析装置
- 走査型電子顕微鏡(SEM)
- 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
- 走査プローブ顕微鏡(SPM)
金属材料

サンプル:超伝導線 FE-SEM(JSM-7000F)
複合材料
- はんだ接合部
- 異物の断面
- 単層膜・多層膜

サンプル:プリント基板上の電子部品 FE-EPMA(JXA-8500F)
無機・金属粉末
生物試料

サンプル:パンジーの種子
W-SEM(JSM-6610LA)

サンプル:玄米
FE-SEM(JSM-7001F)
高分子材料

サンプル:PETフィルム
FE-SEM(JSM-7001F)

サンプル:玄米
サンプル:ゴム栓 FE-SEM(JSM-7001F)

間欠シャッター機能付きCPを使用
(IN/OUT設定5分間隔)