CPによる断面試料作製
クロスセクションポリッシャ™
断面方向からの解析に必要なサンプル作製が可能です。
平滑な断面を、物理的ダメージを与えることなく加工できるため、チャネリングコントラストの解析にも優れています。
硬い材料と軟らかい材料の接合部等、従来の機械研磨で困難な試料の断面作製に適しています。
広い面(500 μm以上)の観察面が確保できます。
対象となる観察・分析装置
- 走査型電子顕微鏡(SEM)
- 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
- 走査プローブ顕微鏡(SPM)
金属材料
![超伝導線](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_01.jpeg)
サンプル:超伝導線 FE-SEM(JSM-7000F)
複合材料
- はんだ接合部
- 異物の断面
- 単層膜・多層膜
![プリント基板上の電子部品](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_02.jpeg)
サンプル:プリント基板上の電子部品 FE-EPMA(JXA-8500F)
無機・金属粉末
生物試料
![パンジーの種子](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_03.jpeg)
サンプル:パンジーの種子
W-SEM(JSM-6610LA)
![サンプル:玄米](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_04.jpeg)
サンプル:玄米
FE-SEM(JSM-7001F)
高分子材料
![サンプル:PETフィルム](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_05.jpeg)
サンプル:PETフィルム
FE-SEM(JSM-7001F)
![サンプル:玄米](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_06.jpeg)
サンプル:玄米
サンプル:ゴム栓 FE-SEM(JSM-7001F)
![間欠シャッター機能付きCPを使用](/assets/img/service_support/analysis/analysis-method04/img_analysis_method04_07.jpeg)
間欠シャッター機能付きCPを使用
(IN/OUT設定5分間隔)
電子顕微鏡関係
科学・計測機器サービス事業部
受託グループ
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