SpiralTOF™ TOF-TOFオプションを用いたフラーレンの測定例
MSTips No.177
フラーレン(C60)のプロダクトイオンスペクトルを、JMS-S3000 SpiralTOFのTOF-TOFモードで測定しました。 本装置ではHigh Energy CID (HE-CID)でのプロダクトイオンスペクトルの測定が可能ですが、今回は衝突ガスとしてHe、Ar、Xeの3種類を用い、ガスの分子量の違いによるプロダクトイオンスペクトルの変化を観察することを目的としました。
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