ドックボーン 引張試験片 二次電子像
鉄鋼
引張試験用の試料をFIB-SEMで作製しました。用途に応じて四角柱および円柱形状で試験片を作製することが可能です。
| アプリケーション | 二次電子像 |
|---|---|
| 撮影倍率 | x3,000 |
| 撮影条件 | 入射電圧: 5kV、検出器: SED |
| 関連製品 | JSM-4700F (FIB-SEM) |
鉄鋼
引張試験用の試料をFIB-SEMで作製しました。用途に応じて四角柱および円柱形状で試験片を作製することが可能です。
| アプリケーション | 二次電子像 |
|---|---|
| 撮影倍率 | x3,000 |
| 撮影条件 | 入射電圧: 5kV、検出器: SED |
| 関連製品 | JSM-4700F (FIB-SEM) |
日本電子では、お客様に安心して製品をお使い頂くために、
様々なサポート体制でお客様をバックアップしております。お気軽にお問い合わせください。
