クロスセクションポリッシャー

断面方向からの解析に必要なサンプル作製が可能です。
平滑な断面を、物理的ダメージを与えることなく加工できるため、チャネリングコントラストの解析にも優れています。
硬い材料と軟らかい材料の接合部等、従来の機械研磨で困難な試料の断面作製に適しています。
広い面(500 μm以上)の観察面が確保できます。

対象となる観察・分析装置
  • 走査型電子顕微鏡(SEM)
  • 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
  • 走査プローブ顕微鏡(SPM)

金属材料

サンプル:超伝導線 FE-SEM(JSM-7000F)

超伝導線 FE-SEM(JSM-7000F)

複合材料

  • はんだ接合部
  • 異物の断面
  • 単層膜・多層膜

サンプル:プリント基板上の電子部品 FE-EPMA(JXA-8500F)

プリント基板上の電子部品 FE-EPMA(JXA-8500F)

無機・金属粉末

生物試料

サンプル:パンジーの種子
W-SEM(JSM-6610LA)

パンジーの種子 W-SEM(JSM-6610LA)

サンプル:玄米
FE-SEM(JSM-7001F)

玄米 FE-SEM(JSM-7001F)

高分子材料

サンプル:PETフィルム
FE-SEM(JSM-7001F)

PETフィルム FE-SEM(JSM-7001F)

サンプル:玄米
サンプル:ゴム栓 FE-SEM(JSM-7001F)

玄米 ゴム栓 FE-SEM(JSM-7001F)

間欠シャッター機能付きCPを使用
(IN/OUT設定5分間隔)

間欠シャッター機能付きCPを使用 (IN/OUT設定5分間隔)

電子顕微鏡関係

フィールドソリューション事業部 受託グループ

042-542-1106
042-546-1044