CPによる断面試料作製
クロスセクションポリッシャ™
断面方向からの解析に必要なサンプル作製が可能です。
平滑な断面を、物理的ダメージを与えることなく加工できるため、チャネリングコントラストの解析にも優れています。
硬い材料と軟らかい材料の接合部等、従来の機械研磨で困難な試料の断面作製に適しています。
広い面（500 μm以上）の観察面が確保できます。
対象となる観察・分析装置
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- 電子プローブマイクロアナライザ（EPMA）
- 走査プローブ顕微鏡（SPM）
金属材料
サンプル：超伝導線 FE-SEM（JSM-7000F）
複合材料
- はんだ接合部
- 異物の断面
- 単層膜・多層膜
サンプル：プリント基板上の電子部品 FE-EPMA（JXA-8500F）
無機・金属粉末
生物試料
サンプル：パンジーの種子
W-SEM（JSM-6610LA）
サンプル：玄米
FE-SEM（JSM-7001F）
高分子材料
サンプル：PETフィルム
FE-SEM（JSM-7001F）
サンプル：玄米
サンプル：ゴム栓 FE-SEM（JSM-7001F）
間欠シャッター機能付きCPを使用
（IN／OUT設定5分間隔）
電子顕微鏡関係
科学・計測機器サービス事業部
受託グループ
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