日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9日（月）～6月11日（水）福岡国際会議場にて開催される、日本顕微鏡学会 第8１回学術講演会に企業展示を行います。
学会講演・冠ワークショップにつきましては参加登録をされた方のみ聴講できますが、顕微鏡 体験ワークショップ、企業展示、ランチョンセミナーにつきましてはどなたでも参加できます。
皆様のご来場をお待ちいたしております。
顕微鏡体験ワークショップのみ事前申し込みが必要です
開催日/会場
日程:
2025年6月9日 (月) ～ 11日 (水) 9：00～17：30（最終日のみ15：00迄）会場:
福岡国際会議場
〒812-0032 福岡県福岡市博多区石城町2-1 地図ブース番号:
B
展示内容
実機
モックアップ
リモートデモ
パネル
EM：SightSKY™ /TEMPO(Trigger-Event Modulated Probability Observation)/JEM-120i
SA：JXA-iHP200F/JXA-iSP100/SXES/
EP：IB-19540CP/IB-19550CCP/JSM-IT810/JIB-PS500i/Gather－X
SOL：装置利用サービス
ランチョンセミナー
6月9日(月)12:00～12:50
会場：C会場 福岡国際会議場５F 502・503
①「XtaLAB Synergy-EDを用いた新しいアプリケーション、大気非曝露MicroEDのご紹介」
XtaLAB Synergy-EDは電子回折統合プラットフォームとして日本電子とリガクが共同で開発しました。データ取得から構造解析まで徹底的に自動化が図られており、簡単に電子回折による結晶構造解析が行えます。操作と解析に用いるソフトウェアはX線単結晶構造解析用ソフトを元に電子回折用に新開発したCrysAlispro for EDでX線単結晶構造解析と同様のワークフローを用いた構造解析がサブミクロンの単結晶に対して可能です。本セミナーでは本装置の特徴と操作方法、アプリケーションを紹介します。
講演者：
青山 佳敬所属：
日本電子株式会社 ＥＭ事業ユニット ＥＭアプリケーション部
②「統合分析プラットフォーム "FEMTUSTM" による多角的な観察 ～複数の分析手法の同時データ収集～」
透過型電子顕微鏡はアタッチメントを追加いただくと、試料の微細構造のみならず、組成や化学状態など様々なデータを取得できます。今回ご紹介する、統合分析プラットフォーム "FEMTUS™" を導入すると、従来、EDSやEELSなどアタッチメント毎に必要であった制御ソフトが不要となり、非常に洗練された1つのウインドウー内で測定の条件設定ができます。また、アタッチメントごとでの同時データ取得、メタデータの同期も容易となっており、データ収集後のオペレータの負担が軽減されます。
講演者：
小井沼 厳所属：
日本電子株式会社 ＥＭ事業ユニット ＥＭアプリケーション部
6月10日(火)12:00～12:50
会場：C会場 福岡国際会議場５F 502・503
①「冷却FIB-SEMの原理と応用例のご紹介」
電子顕微鏡観察・分析において、試料作製によるアーティファクトをいかに軽減し、試料の真の姿に近い状態で測定できる最適な試料作製法を選択することは非常に重要である。イオンビームによる試料作製の場合、熱に弱い試料は加工の際、試料を冷却することによりアーティファクトを軽減できることが知られている。本講演では、FIB-SEMにおける試料冷却手法の概略とその応用例を紹介する。
講演者：
松島 英輝所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部
②「最新CPのご紹介～遠隔操作・スムーズなGUI・大気非曝露調整 ～」
CP（クロスセクションポリッシャー™）は、アルゴンイオンビームを用いた断面試料作製装置で、SEMやFIBなどの前処理に使用されています。最新のCPは、ユーザーフレンドリーなGUIを搭載し、遠隔操作による加工状況の確認や加工条件の変更が可能となりました。さらに電池材料などの加工で使用される大気非曝露用ホルダーの操作性も向上しています。今回は、これらの新機能とその利便性についてご紹介します。
講演者：
應本 玉惠所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部
③「- SEM の測定作業を効率化 - 自動観察・分析機能 "Neo Action" のご紹介」
走査電子顕微鏡 (SEM) は研究開発、品質保証、製品検査の現場まで幅広く使われています。これらの用途においては、大量の画像や分析データの取得を必要とすることが多く、自動化のニーズが高まってきています。JEOLの高分解能SEM JSM-IT810におけるオート機能（フォーカス、非点収差、光軸の自動調整）の進歩は著しく、自動観察と分析が実用的になりました。Neo Action はSEM の視野移動から測定条件変更、光学系調整、画像取得、EDS による元素分析までを、多視野に対して自動で行う機能です。本発表ではNeo Actionの特長と、応用事例について紹介します。
講演者：
高山 隼所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部
定員
100名
注意事項
学会受付にて予約チケットを配布しています。
参加費
無料
お申し込み方法
学会受付にて予約チケットを配布しています。または時間になりましたら、会場にお越しください。但し事前予約チケットをお持ちの方が優先になります。
顕微鏡体験ワークショップ
「顕微鏡体験ワークショップ」では、実際に走査型電子顕微鏡や光学顕微鏡を使用して、ミクロの世界を体験していただきます。特に次の世代を担う小中高校生のご参加をお待ちしております。
主催：
日本顕微鏡学会日時：
2025年6月8日(日)15:00～16:30場所：
福岡国際会議場 5階 会議室502・503
〒812-0032 福岡県福岡市博多区石城町2-1 地図定員：
60名参加費：
無料
「発見！探検！ミクロの世界（日本電子株式会社 提供）」
誰でも使える日本電子の走査電子顕微鏡NeoScope™を使ってミクロの世界の美しい構造や機能を発見！探検！しましょう。
事前にお申し込みが必要になります。下記よりお申し込みください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
