蛍光X線と特性X線の活用術 ~XRF・EPMA見落としのない測定条件設定方法~
公開日: 2021/03/19
XRF・EPMAともに元素分析を行う装置として知られていますが、得られる結果には違いがあります。この"違い"を活用することで、より効率的・より正確な測定を行うことができるようになります。
今回は、まずXRFとEPMAの分析原理や特長について説明し、2つの装置を組み合わせた分析事例をご紹介します。
また、XRFのデータをEPMAに読み込ませるだけで、EPMAの測定条件を簡単に設定できる「EPMA-XRFインテグレーションシステム」についてもご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
* EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。
"このウェビナーから学べること"
- XRFとEPMAの違いと特長
- EPMAによる元素マップ作成時の注意点と解決法
- XRFによる膜厚測定時の注意点と解決法
"参加いただきたいお客様"
- XRFあるいはEPMAを検討中の方、またお使いいただいている方
- EPMAによる分析で元素の見落としに不安のある方
- XRFによる非破壊検査の幅を広げたい方
講演者:
村谷 里香
日本電子株式会社
SA事業ユニット
SA技術開発部
第1グループ
開催日/詳細
- 2021年4月20日 (火) 16:00~17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
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参加費
- 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は@に、ご変更ください。
動画
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