JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)※RoHS対応製品

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特長 STRONG POINT

JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)
JSX-1000Sは、タッチパネルを採用した簡単に元素分析ができる蛍光X線分析装置です。
一般的な定性定量分析(FP法・検量線法)や、RoHS元素のスクリーニング機能を備えています。 
ハードウェア・ソフトウェア両面の各種オプションにより、さらに幅広い分析が可能です。

蛍光X線分析原理

試料にX線を照射すると、試料に含まれる元素特有のエネルギーを持つX線が発生します。
これを蛍光X線と呼びます。この蛍光X線を半導体検出器で検出し、エネルギー(横軸)から元素の種類をX線の強さ(縦軸)から元素の濃度を算出する分析法です。
詳しくは、やさしい化学(蛍光X線分析原理)

幅広い応用分野

幅広い応用分野

ソリューションの提供

ソリューションアプリは、予め登録されたレシピに従い目的の測定分析を自動実行します。ソリューションアプリリストから目的のソリューションアイコンを選択するだけで簡単に分析結果が得られます。多種多様な分野において簡単分析を提供します。

提供中のソリューション

標準構成のソリューション
標準構成のソリューション RoHS, 簡易分析
オプション構成のソリューション
オプション構成のソリューション RoHS,農業食品,環境

新開発のスマートFP(ファンダメンタルパラメータ)法

新開発のスマートFP(ファンダメンタルパラメータ)法により、標準試料を準備することなく、かつ自動的に残成分および厚さの補正を行った高精度な定量結果が得られます。
(残成分補正および厚さ補正機能は、有機物試料のみに対応しています)

厚み 補正 Cr Zn Cd Pb 自動バランス
0.5mm No 0.008 0.037 0.001 0.002 99.76
3.8mm 0.012 0.109 0.004 0.006 99.64
0.5mm Yes 0.011 0.137 0.015 0.010 99.54
3.8mm 0.011 0.134 0.016 0.011 99.55
標準値 0.010 0.125 0.014 0.010
FP法分析結果(mass%)

スマート・アシスト(YOKOGUSHI提案)

JEOL製品に対して、JSX-1000Sは分析のプレチェック、クロスチェック機として最適!!

砂に含まれるZr ED XRF→SEM EDS (YOKOGUSHI提案)

ジルコニウム(Zr)は海浜や河川の砂に含まれています。しかし、全ての砂にZrが含まれているわけではありません。
XRFを用いることで砂粒群にZrが含まれているかを迅速に判別することができます。また、SEM EDSを利用するとZrが存在する砂粒を特定することができます。
XRFとSEM EDSを併用することで、目的元素の所在を絞り込む事ができます。

XRF:複数の砂粒を測定しZrの存在を確認
SEM-EDS:反射電子像とEDSでZr部位を特定

動画紹介


◆上のボックス内の再生ボタンをクリックするとムービーが始まります(約4分)◆

シンプルオペレーション

試料をセットし、画面をタッチするだけの簡単な操作です。
分析結果表示/スペクトル表示の切り替えもタッチ操作で、タブレットPCやスマートフォンのような感覚で操作できます。(キーボート・マウスによる操作も可能です)。

セット&タッチのシンプルオペレーション

シンプルで直感的な操作性のGUI

シンプルで直感的な操作性のGUI

高感度&ハイスループット

長年培った当社独自のアルゴリズムによるFP( ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を使わず高精度な定性・定量分析が行えます。
新開発・自社製SDD( シリコンドリフト検出器) と新設計の光学系、全エネルギー範囲対応フィルターにより高感度分析が可能です。
試料室排気ユニット( オプション) を装着することにより軽元素の検出感度が向上します。

JSX-1000S 光学系イメージ

全エネルギー範囲高感度分析

全エネルギー範囲高感度分析最大9種類のフィルター* と試料室排気ユニットにより全エネルギー範囲で高感度分析が可能になります。
* ClとCu, Mo, Sb はオプションです。
微量元素検出例(10ppm以下)

カタログ

仕様 SPEC

検出元素範囲 Mg~U
F~U(オプション)
X線発生装置 5~50 kV ,  1mA
ターゲット Rh
一次フィルタ 最大9種 自動交換 OPEN, ND, Cr, Pb, Cd (標準)
Cl, Cu, Mo, Sb (オプション)
コリメータ 3種 自動交換 0.9mm, 2mm, 9mm
検出器 シリコンドリフト検出器
試料室サイズ 300mmφ×80mmH
試料室雰囲気 大気 / 真空(オプション)
試料室観察機構 カラーカメラ
操作用コンピュータ Windows ® タッチパネル式デスクトップパソコン
分析用ソフトウェア 定性分析(自動定性、KLMマーカ
サムピーク表示、スペクトル検索)
定量分析(バルクFP法、検量線法)
RoHS分析ソリューション(Cd,Pb,Hg,Br,Cr)
簡易分析ソリューション
レポート作成ソフトウェア
日常チェック用ソフトウェア 管球エージング、エネルギーチェック、強度チェック

脚注:Windows は、米国 Microsoft Corporation の、米国およびその他の国における登録商標または商標です。

 

主なオプション

  • 試料室排気ユニット
  • 多試料自動交換ユニット
  • フィルターセット
  • フィルターFP法分析ソフトウェア
  • 薄膜FP法分析ソフトウェア
  • サムピーク除去ソフトウェア
  • Niメッキスクリーニングソリューション
  • Snメッキスクリーニングソリューション
  • ハロゲンスクリーニングソリューション

アプリケーション APPLICATION

ソリューション別アプリケーション

環境分析

  • リサイクル品の分析
  • 焼却灰
  • 排水
  • 廃棄物
  • 土壌汚染対策法
  • 土壌成分
  • PM2.5

食品分析

  • ミネラル成分
  • 重金属成分
  • 食品異物分析

工程管理

  • RoHS
  • ハロゲンフリー
  • 非鉄金属
  • 半田槽管理
  • メッキ
  • 鉄鋼・スラグ
  • 樹脂材料
  • 軽金属
  • 異物調査・不良解析
  • セラミック・ガラス

鉱石分野

  • 岩石
  • 宝飾品
  • 貴金属

環境分析

 

食品分析

 

工程管理

 

鉱石分野

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