JSX-1000S エネルギー分散形蛍光X線分析装置(XRF)

特長 STRONG POINT

JSX-1000Sは、タッチパネルを採用した簡単に元素分析ができる蛍光X線分析装置です。
一般的な定性定量分析（FP法・検量線法）や、RoHS元素のスクリーニング機能を備えています。　
ハードウェア・ソフトウェア両面の各種オプションにより、さらに幅広い分析が可能です。

動画紹介

◆上のボックス内の再生ボタンをクリックするとムービーが始まります（約4分）◆

シンプルオペレーション

試料をセットし、画面をタッチするだけの簡単な操作です。分析結果表示／スペクトル表示の切り替えもタッチ操作で、タブレットPCやスマートフォンのような感覚で操作できます。（キーボート・マウスによる操作も可能です）。

セット＆タッチのシンプルオペレーション

シンプルで直感的な操作性のGUI

高感度＆ハイスループット

長年培った当社独自のアルゴリズムによるFP( ファンダメンタルパラメータ) 法により、標準試料を使わず高精度な定性・定量分析が行えます。
新開発・自社製SDD( シリコンドリフト検出器) と新設計の光学系、全エネルギー範囲対応フィルターにより高感度分析が可能です。
試料室排気ユニット( オプション) を装着することにより軽元素の検出感度が向上します。
JSX-1000S 光学系イメージ

全エネルギー範囲高感度分析

全エネルギー範囲高感度分析最大9種類のフィルター* と試料室排気ユニットにより全エネルギー範囲で高感度分析が可能になります。

* ClとCu, Mo, Sb はオプションです。

微量元素検出例（10ppm以下）

ソリューションの提供

ソリューションアプリは、予め登録されたレシピに従い目的の測定分析を自動実行します。ソリューションアプリリストから目的のソリューションアイコンを選択するだけで簡単に分析結果が得られます。多種多様な分野において簡単分析を提供します。

新開発のスマートFP（ファンダメンタルパラメータ）法により、標準試料を準備することなく、かつ自動的に残成分および厚さの補正を行った高精度な定量結果が得られます。
（残成分補正および厚さ補正機能は、有機物試料のみに対応しています）

厚み	補正	Cr	Zn	Cd	Pb	自動バランス
0.5mm	No	0.008	0.037	0.001	0.002	99.76
3.8mm	No	0.012	0.109	0.004	0.006	99.64
0.5mm	Yes	0.011	0.137	0.015	0.010	99.54
3.8mm	Yes	0.011	0.134	0.016	0.011	99.55
標準値		0.010	0.125	0.014	0.010

FP法分析結果（mass%）

仕様 SPEC

検出元素範囲	Mg～U
検出元素範囲	F～U（オプション）
Ｘ線発生装置	5～50　kV , 1mA
ターゲット	Rh
一次フィルタ　最大9種　自動交換	OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　(標準）
一次フィルタ　最大9種　自動交換	Cl, Cu, Mo, Sb　(オプション）
コリメータ　3種　自動交換	0.9mm, 2mm, 9mm
検出器	シリコンドリフト検出器
試料室サイズ	300mmφ×80mmH
試料室雰囲気	大気　/　真空(オプション）
試料室観察機構	カラーカメラ
操作用コンピュータ	Windows ®　タッチパネル式デスクトップパソコン
分析用ソフトウェア	定性分析（自動定性、KLMマーカサムピーク表示、スペクトル検索）定量分析（バルクFP法、検量線法） RoHS分析ソリューション（Cd,Pb,Hg,Br,Cr) 簡易分析ソリューションレポート作成ソフトウェア
日常チェック用ソフトウェア	管球エージング、エネルギーチェック、強度チェック