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特長 STRONG POINT

JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

電子プローブマイクロアナライザは、鉄鋼、自動車、電子部品、電池材料など、様々な産業分野で、研究開発や品質保証のツールとして活用され、ますますその用途を広げています。また、学術分野でも地球惑星科学や材料科学で広く使われており、鉱物等資源エネルギー研究や各種新素材の材料研究等、さまざまな最先端研究に貢献することが期待されています。それに応じて、高い局所微量元素分析のパフォーマンスは維持しつつ、誰もが "簡単" "迅速" に装置を使うことが求められています。

JXA-iHP200FとJXA-iSP100は、それらのニーズに応え、観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。

* EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

Setting

オートローディングでホルダーを確実に装填!観察したい場所をすばやく発見!

試料導入と試料ホルダーの光学像(ステージナビゲーション画像)取得をワンボタンで実行します。
ステージナビゲーション画像から分析視野を指定できます。

Analysis

充実したAuto機能により誰でも得られるハイグレードなSEM像
面倒な設定もすべてお任せかんたんEPMAですぐに元素分析

光学顕微鏡のAuto Focus機能と、高精度/高速化した新システムを搭載したSEMのAuto機能を組み合わせることで、誰でもハイグレードなSEM像が得られます。
「Live Analysis」 により、観察中にスクリーニング分析ができます。初心者でもEPMAの操作ができる「かんたんEPMA」を用意しました。「EPMA-XRFインテグレーション」で、XRFのデータをもとに、EPMAの条件設定ができるようになりました。WD/EDインテグレーションで、分析時間の効率化を図ることができるようになりました。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像のインテグレーションで操作性が向上しました。


かんたんEPMAの設定画面とデータ表示

EDS Live Analysis

WD/EDインテグレーションによる分析時間短縮事例
インテグレーション:これらの装置で判定された元素は ボタンひとつで分光結晶の組み合わせを設定します。
インテグレーション:これらの装置で判定された元素は ボタンひとつで分光結晶の組み合わせを設定します。

Self Maintenance

18種類の校正試料内蔵で効率的にキャリブレーション

「分光器校正機能」の搭載により、定期的な分光器キャリブレーションの作業軽減と、校正試料設定時の人的ミスを回避することができます。
夜間を利用した装置校正により効率化をはかれます。
「メンテナンス通知機能」により、必要な時期に確実にメンテナンスを行うことができるため、装置の状態が最良の状態に保たれます。


18種類の校正試料内蔵

メンテナンス通知機能 「カスタマーサポートツール」

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