2017/05/08

主催:一般社団法人日本分析機器工業会 / 一般社団法人 日本科学機器協会
公式サイト

開催日/会場

  • 日程:
    2017年9月6日(水)~9月8日(金)
  • 会場:
    幕張メッセ・国際展示場
    アパホテル&リゾート(東京ベイ幕張)
    ホテルニューオータニ幕張
    地図
  • 入場事前登録:
    公式サイトより早期事前登録で入場証を入手すると、受付を通らず直接入場できます。是非お早めにお手続きください。
  • ブースNo.:
    No. 8A-801
  • セミナー講演会場:
    JASIS2017 会場案内図(日本電子ブース)

新技術説明会

※聴講無料です。そのまま会場にお越しください。受付でお名刺を頂きますので、ご用意をお願い致します。

9月6日(水)

日時 講演会場 タイトル
要旨
10:30~10:55 N-5 樹脂の新しい熱劣化評価法 -初期変性で生じるラジカルをin-situで測定-
電子スピン共鳴(ESR)に400°Cまで加熱可能な付属品を装着し樹脂の熱劣化をin-situ評価する方法を紹介する。
11:10~12:00 N-4 これだけは知っておきたい質量分析の基礎知識!!
質量分析法は、非常に有用で、且つ広範囲な応用分野を持つ分析法の一つである。今回、質量の定義からイオン化法及び測定法の種類など、質量分析を行う上で知っておきたい基礎的な内容を解説する。
12:30~12:55 A-5 ポータブルGCで解決! 土対法改正に伴うクロロエチレン分析手法を分かりやすく紹介!
土壌汚染対策法の改正に伴い、ポータブルGCを用いたクロロエチレンを含む12物質分析手法をご紹介する。
13:10~13:35 N-6 試料最表面から内部まで観察、分析!! 最新FIB-SEMのご紹介
新開発SEM鏡筒を搭載した最新FIB-SEMによる試料解析例を紹介する。
13:50~14:15 A-3 ここまで早い! 自動EDS元素分析システム
SEM-EDSを使用した最新の粒子解析によるハイスループット自動元素分析技術を紹介する。
15:50~16:15 A-5 アンビエント質量分析最前線 ~ DART、そしてその先へ
DARTを発明して、世界で最初にアンビエント質量分析を実現したJEOLから、その最新の応用例を紹介する。

9月7日(木)

時間 講演会場 タイトル
要旨
10:30~10:55 A-1 現場で役立つ!! 高質量分解能MALDI-TOFMSによる合成高分子解析
高質量分解能MALDI-TOFMSによる高分子分析についてデータの俯瞰から詳細解析まで紹介する。
11:10~11:35 N-5 ハイエンドGC-MS分析の最新トレンド!! 網羅的解析を駆使したノンターゲット分析の新たなアプローチ
GC-TOFMSを用いた網羅的解析と未知成分解析アプリケーションを紹介する。
12:30~12:55 A-5 分析業務をさらに早く!より楽に! 高輝度電子銃を備えた汎用型分析SEMのご紹介
より快適な分析作業を追求した新開発のソフトウェアと高輝度電子銃を備えた最新型汎用SEMを紹介する。
13:10~13:35 A-1 ここまでできる! 質量分析計によるガス分析の最新情報
異なるタイプの質量分析計を用いたガス分析における最新のアプリケーションを紹介する。
13:50~14:15 N-5 TEM, FIBからの3Dデータの解析技術
TEM, FIBから取得された3Dデータの解析手法の紹介
15:10~15:35 A-5 簡単操作で身近になったハイパフォーマンスFESEM
新制御システムNeo Engine搭載によりオート機能が充実され簡単操作になりました。

9月8日(金)

時間 講演会場 タイトル
要旨
10:30~10:55 N-3 NMRによる検量線が不要の絶対定量法
分子の純度・濃度を決定する定量NMR法は,分子毎に標準品を用意する必要がない。その基礎を解説する。
11:50~12:15 A-5 ここまでできる! XRFを用いた高精度材質判定のご紹介-異物分析への応用-
新しく開発したスペクトルマッチング機能で材質判定の幅を広げた。金属だけでなく樹脂も判定可能に。
13:10~13:35 N-6 高分解能マイクロCTによる多彩な材料構造解析アプローチ
Fiber系樹脂材料をメインに3D構造からの多彩な解析事例を紹介する。
13:50~14:15 A-4 ハイエンド電子顕微鏡のための環境対策最前線 ~Part4.理想的なラボ作りのために
今回は騒音対策とともに総集編とし、装置とオペレーター双方に最適な環境作りの取り組みを紹介する。
15:10~15:35 A-5 各種機能ホルダーによる多機能化を実現! 新しいクロスセクションポリッシャ™の紹介
断面・平面ミリング、コーティング機能の拡張が可能となった新イオンビーム試料作製装置を紹介する。
15:50~16:15 N-1 あなたのTEMに実環境が再現できます
今お持ちのTEMに実環境(加熱、ガス中、液中など)を再現できるホルダーについて紹介する。

オープンソリューションフォーラム

※事前申し込みが必要ですので、聴講希望の方はお申し込みをお願い致します。7月下旬よりJAIMAのWEB申し込みフォームからお申し込み頂けます。

時間 講演会場 タイトル
要旨
9月6日(水)
14:10~14:35
展示会場4ホール内
講演会場
改正RoHS指令において追加された新規含有制限物質の分析法について
改正RoHS指令では、指令適応の製品カテゴリーが追加されると共に、含有規制物質として新たに4種類のフタル酸エステル類が追加されました。本発表では、これらの4物質の分析手順について、以前から含有制限物質とされているポリ臭素化ビフェニル、ポリ臭素化ビフェニルエーテルの分析手順と比較しながら、分析方法の詳細や分析結果などをご紹介します。
9月7日(木)
11:15~11:40
展示会場4ホール内
講演会場
おいしさを読み解くための機器分析手法
食品のおいしさには、味覚的な因子である呈味成分や嗅覚的な因子である香気成分など、さまざまな要素が複合的に関係しています。その客観的評価に有用な各種理科学機器と、それらを併用した分析事例を紹介します。