5分間 EBSDマップ時代到来 ~EBSD分析高速化の検討~(WEBセミナー) *動画公開中*

2018/05/11
(更新日: 2020/4/3)

近年、電子線後方散乱回折(EBSD)法の進展はめざましく、秒間3000点を超える取得スピードで分析が行える時代になってきました。一方、EBSD法におけるSEM条件設定や前処理などの工夫は、解析精度を上げるために必要不可欠なものとなっています。これは高速EBSD分析においても同様であり、加速電圧、照射電流、断面作製などのノウハウを知ることは解析精度向上に直結します。

本発表では前処理や分析条件といったノウハウから、最新の機器を用いたアプリケーションをご紹介致します。

本セミナーは、Web上で開催されます。Webに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

主催: 日本電子株式会社

開催日/詳細

  • 日程:
    2019年2月15日(金) 16:00~16:30

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参加費/定員

  • 参加費:
    無料
  • 定員: 200名
    ※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。

お申し込み方法

  • 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
    https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e62989afab8f2be62bf94bcf2de8f0747

    WEBセミナーの登録・参加の手順はこちら (PDF 591KB)をご覧ください。
    初回参加時は、シスコシステムズ合同会社が提供するセミナー閲覧用アプリをインストールする必要があります。
    セミナー参加時に案内表示が出ますので、それに従いインストールをお願いいたします。所要時間は1分程度です。

    同業者の方のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
    担当: 廣川(ひろかわ)、嶋田(しまだ)
    TEL: 03-6262-3560

動画

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5分間 EBSDマップ時代到来 ~EBSD分析高速化の検討~