2021/02/16
(更新日: 2021/4/1)

キャッチコピーは『全固体電池・LIB を視る~安全管理と特性評価~』とし、様々な分析装置を活用した、応用データパネルを中心に展示します。
また会場では展示パネル及び動画、学会にて発表したセミナー内容をダウンロードできるサイトをご案内予定です。
ブース内にオンライン商談席を設け、本社アプリケーション担当者からの説明も受けられます。お気軽にお声がけください。また事前の予約も承っております。

主催:リード エグジビション ジャパン 株式会社
公式サイト

開催日/会場

  • 日程:
    2021年3月3日(水)~3月5日(金) 10:00~17:00
  • 会場:
    東京ビッグサイト
    〒135-0064 東京都江東区青海3-11-1
    地図
  • ブースNo.:
    S2-28 (東京ビッグサイト 南展示棟1F)
    日本電子ブース: S2-28 (東京ビッグサイト 南展示棟1F)

※ウェビナー・パネル 公開期間: 2021年3月3日(水)~20201年3月31日(水)

ウェビナー

全固体電池/LIB

負極/固体電解質/正極材

低加速電圧FE-SEMを用いた分析 ~微小領域分析とその手法~

観察手法の紹介

低加速電圧FE-SEMを用いた分析 ~微笑領域分析とその手法~

SEM-SXES法を用いた金属シリコン負極材の充放電分析

負極シリコン材料をSXES, EDS, EBSDを用いた分析事例紹介

SEM-SXES法を用いた金属シリコン負極材の充放電分析

リチウムイオンの直接観測!NMRによるLIB材料分析

全固体電池/LIBの正極/負極/電解質のアプリケーションの紹介

リチウムイオンの直接観測!NMRによるLIB材料分析

最新のオージェ電子分光法 (AES) によるLiイオン電池材料解析

Li化合物の微小領域からの分析と定量

最新のオージェ電子分光法 (AES) によるLiイオン電池材料解析

SEMによるマッピングをもう一歩先へ
~最新の静電半球型アナライザーを用いた高空間分解能、化学状態マップ~

化学状態分析の紹介 ~オージェを用いた微小領域分析~

SEMによるマッピングをもう一歩先へ ~最新の静電半球型アナライザーを用いた高空間分解能、化学状態マップ~

XPSによるリチウムイオン電池の化学結合状態分析
~標準スペクトルの取得と利用方法~

化学状態分析の紹介 ~XPSを用いた広域分析~

XPSによるリチウムイオン電池の化学結合状態分析~標準スペクトルの取得と利用方法~

最新の自動収差補正システムを搭載した原子分解能分析電子顕微鏡~NEOARM~の紹介

局所構造の可視化と分析

JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡のご紹介

電子プローブマイクロアナライザーのご紹介

微小領域の微量定量分析の紹介 ~ユーザビリティの進んだEPMA*
* EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

電子プローブマイクロアナライザーのご紹介

FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介

電池材料に対応する非曝露で行う高スループット試料作製方法の紹介

FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介

クロスセクションポリッシャ™(CP)を活用したLiイオン電池材料の前処理

正極材とLiの定量評価可能な試料作製

クロスセクションポリッシャ(CP)を活用したLiイオン電池材料の前処理

品質管理・安全評価

ICPユーザー必見!ED-XRFによる微量元素の検出下限 ~スクリーニングからppmオーダー分析まで~

微量元素の定量測定

ICPユーザー必見!ED-XRFによる微量元素の検出下限 ~スクリーニングからppmオーダー分析まで~

TG-MSを用いた負イオン測定による硫化物系固体電解質の分析

固体電解質から発生するガスと安全品質評価

TG-MSを用いた負イオン測定による硫化物系固体電解質の分析

in situ

Battery analysis
「In-situ その場で分析するJEOLの質量分析計」

充放電のリアルタイム分析

In-situ その場で分析するJEOLの質量分析計

展示パネル (LEDパネルにて展示)

電池分野

全固体電池の分析ソリューション
-All Solid State Battery Analysis Solution-

全固体電池の分析ソリューション -All Solid State Battery Analysis Solution-

Lithium ion Battery 充放電前後の評価

Lithium ion Battery 充放電前後の評価

非曝露搬送対応 加工・観察・分析装置 Air Isolation Cycle

非曝露搬送対応 加工・観察・分析装置 Air Isolation Cycle

透過電子顕微鏡

原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2

JEM-ARM300F2

電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

電子プローブマイクロアナライザー
JXA-iHP200F / JXA-iSP100

電子プローブマイクロアナライザー JXA-iHP200F/JXA-iSP100

オージェマイクロプローブ (Auger)

フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
JAMP-9510F

フィールドエミッションオージェマイクロプローブ JAMP-9510

軟X線分光器

軟X線分光器
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range)

軟X線分光器 SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range)

走査電子顕微鏡 (SEM)

卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™

卓上走査電子顕微鏡 JCM-7000 NeoScope(TM)

電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800 Super Hybrid Lends <SHL>

JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡
JSM-IT700HR InTouchScope™

JSM-IT700HR InTouchScope(TM) 走査電子顕微鏡

イオンビーム応用装置 (FIB、CP)

複合ビーム加工観察装置
JIB-4700F

複合ビーム加工観察装置 JIB-4700F

冷却クロスセクションポリッシャ™
IB-19520CCP

冷却クロスセクションポリッシャ(TM) IB-19520CCP

質量分析計

質量分析計によるリチウムイオン二次電池の分析例

JMS-MT3010HRGA INFITOF 多重周回飛行時間質量分析計

材料生成機器 (ナノ粒子合成)

リチウムイオン電池電極材料開発
高周波誘導熱プラズマ
粉末供給装置
巻取式電子ビーム蒸着装置

リチウムイオン電池電極材料開発

粗品 (ノベルティ) のご案内

ブースご来場の方にJEOLオリジナル文具セット (ボールペン「ブレン」、スティックノリ「GLOO」)※1 もしくは、携帯はさみフィットカットカーブ「Twiggy」※2をプレゼント致します。
※1: ブレン (ゼブラ社製) 、GLOO (コクヨ社製) ※2: Twiggy (プラス社製)

ノベルティ

ダウンロードした引換券をプリントアウト、もしくはスマートフォン等で引換券をスクリーンショットしてJEOLブースの受付までお越しください。
数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。 いずれかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部
担当: 廣川 (ひろかわ)
TEL: 03-6262-3560・FAX: 03-6262-3577
E-mail:jeol_event[at]jeol.co.jp
※[at]は@と置き換えてください