蛍光X線と特性X線の活用術 ~XRF・EPMA見落としのない測定条件設定方法~

2021/03/19

XRF・EPMAともに元素分析を行う装置として知られていますが、得られる結果には違いがあります。この"違い"を活用することで、より効率的・より正確な測定を行うことができるようになります。
今回は、まずXRFとEPMAの分析原理や特長について説明し、2つの装置を組み合わせた分析事例をご紹介します。
また、XRFのデータをEPMAに読み込ませるだけで、EPMAの測定条件を簡単に設定できる「EPMA-XRFインテグレーションシステム」についてもご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

* EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。

"このウェビナーから学べること"

  • XRFとEPMAの違いと特長
  • EPMAによる元素マップ作成時の注意点と解決法
  • XRFによる膜厚測定時の注意点と解決法

"参加いただきたいお客様"

  • XRFあるいはEPMAを検討中の方、またお使いいただいている方
  • EPMAによる分析で元素の見落としに不安のある方
  • XRFによる非破壊検査の幅を広げたい方

講演者:

村谷 里香

日本電子株式会社
SA事業ユニット
SA技術開発部
第1グループ

講演者

開催日/詳細

  • 2021年4月20日 (火) 16:00~17:00
    講演後に質疑応答の時間があります。

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参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。