ビギナーから使える!透過電子顕微鏡JEM-F200の可能性!-従来の手法からその場観察、結晶方位回折まで-

2021/09/13

多目的電子顕微鏡JEM-F200を使用した、様々な解析事例や研究成果を紹介します。
JEM-F200で取得した基礎データの紹介も行います。
応用データとしては磁性体サンプルを用いた結果や、その場観察ホルダーを使用したデータ、結晶方位解析装置を使用した解析例などユニークな結果の数々をご覧いただければと思います。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • JEM-F200の基本性能
  • JEM-F200で使用できるアタッチメント
  • アタッチメントより得られる結果

"参加いただきたいお客様"

  • JEM-F200の基本性能を知りたいお客様
  • TEMを使ってどのようなデータが得られるか?に興味があるお客様
  • 従来の観察手法だけでなく、色々なことをTEMを使用してやりたいお客様

講演者

福永啓一 / 村山晴佳

EM事業ユニット
EMアプリケーション部

講演者

開催日/詳細

  • 2021年11月19日 (金) 16:00~17:00
    講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

  • JEM-F200 多機能電子顕微鏡
  • Nanomegas社製 TOPSPIN P2010
  • Protochips社製その場観察ホルダー(加熱、電圧印加、ガス環境、液中)
  • Gatan社製  冷却ホルダー636

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。