視野カットなし! ダイナミックな細胞観察のご紹介

2021/12/15
(更新日: 2021/12/21)

TEM観察において、グリッドのバーによる視野カットが原因で広域のデータを得ることが難しい場合があります。通常はバーのない単孔グリッドを使うことが多いですが、支持膜が破れやすいため取り扱いが難しく、切片の回収には慣れが必要です。
弊社の提供するSiN Window Chipは視野カットなしで観察できるだけでなく、強度が高いため破れにくく、取り扱いが非常に簡単です。
本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN Window Chipを用いて、植物細胞のアレイトモグラフィーを行った事例をご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

"このウェビナーから学べること"

  • JEM-1400Flashの基本性能
  • SiN Window Chipの特長
  • SiN Window Chipを使ったアプリケーション

"参加いただきたいお客様"

  • 広域観察を行っている方
  • 連続切片作製にお困りの方
  • TEMアレイトモグラフィーに興味をお持ちの方

講演者

青木 遥

EM事業ユニット
EMアプリケーション部
第2グループ
第2チーム

講演者

開催日/詳細

  • 2022年2月1日 (火) 16:00~17:00
    講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

発表資料

  • 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

  • 無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法


※登録・参加方法の詳細は こちら (PDF 524KB)をご覧ください。
※ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。
詳細は こちら をご覧ください。
※競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

お問合せ

  • 日本電子株式会社
    デマンド推進本部 ウェビナー事務局 
    sales1[at]jeol.co.jp
    ※ [at]は@に、ご変更ください。