キャッチコピーは『全固体電池・LIB を視る~安全管理と特性評価~』とし、様々な分析装置を活用した、応用データパネルを中心に展示します。
また会場では展示パネル及び動画、学会にて発表したセミナー内容をダウンロードできるサイトをご案内予定です。
ブース内にオンライン商談席を設け、本社アプリケーション担当者からの説明も受けられます。お気軽にお声がけください。また事前の予約も承っております。
主催:リード エグジビション ジャパン 株式会社
公式サイト
開催日/会場
- 日程:
2021年3月3日(水)~3月5日(金) 10:00~17:00
- 会場:
東京ビッグサイト
〒135-0064 東京都江東区青海3-11-1
地図
- ブースNo.:
S2-28 (東京ビッグサイト 南展示棟1F)

※ウェビナー・パネル 公開期間: 2021年3月3日(水)~20201年3月31日(水)
ウェビナー
負極/固体電解質/正極材
低加速電圧FE-SEMを用いた分析 ~微小領域分析とその手法~
観察手法の紹介
SEM-SXES法を用いた金属シリコン負極材の充放電分析
負極シリコン材料をSXES, EDS, EBSDを用いた分析事例紹介
リチウムイオンの直接観測!NMRによるLIB材料分析
全固体電池/LIBの正極/負極/電解質のアプリケーションの紹介
最新のオージェ電子分光法 (AES) によるLiイオン電池材料解析
Li化合物の微小領域からの分析と定量
SEMによるマッピングをもう一歩先へ
~最新の静電半球型アナライザーを用いた高空間分解能、化学状態マップ~
化学状態分析の紹介 ~オージェを用いた微小領域分析~
XPSによるリチウムイオン電池の化学結合状態分析
~標準スペクトルの取得と利用方法~
化学状態分析の紹介 ~XPSを用いた広域分析~
最新の自動収差補正システムを搭載した原子分解能分析電子顕微鏡~NEOARM~の紹介
局所構造の可視化と分析
電子プローブマイクロアナライザーのご紹介
微小領域の微量定量分析の紹介 ~ユーザビリティの進んだEPMA*~
* EPMAは、Electron Probe Microanalyzerの略称です。
FIB-SEMによる最新3Dアプリケーションのご紹介
電池材料に対応する非曝露で行う高スループット試料作製方法の紹介
クロスセクションポリッシャ™(CP)を活用したLiイオン電池材料の前処理
正極材とLiの定量評価可能な試料作製
品質管理・安全評価
ICPユーザー必見!ED-XRFによる微量元素の検出下限 ~スクリーニングからppmオーダー分析まで~
微量元素の定量測定
TG-MSを用いた負イオン測定による硫化物系固体電解質の分析
固体電解質から発生するガスと安全品質評価
Battery analysis
「In-situ その場で分析するJEOLの質量分析計」
充放電のリアルタイム分析
展示パネル (LEDパネルにて展示)
全固体電池の分析ソリューション
-All Solid State Battery Analysis Solution-
Lithium ion Battery 充放電前後の評価
非曝露搬送対応 加工・観察・分析装置 Air Isolation Cycle
原子分解能分析電子顕微鏡
JEM-ARM300F2 GRAND ARM™2
電子プローブマイクロアナライザー
JXA-iHP200F / JXA-iSP100
フィールドエミッションオージェマイクロプローブ
JAMP-9510F
軟X線分光器
SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer)/SXES-ER (Soft X-Ray Emission Spectrometer Extended Range)
卓上走査電子顕微鏡
JCM-7000 NeoScope™
電界放出形走査電子顕微鏡
JSM-IT800 Super Hybrid Lends <SHL>
走査電子顕微鏡
JSM-IT700HR InTouchScope™
冷却クロスセクションポリッシャ™
IB-19520CCP
リチウムイオン電池電極材料開発
高周波誘導熱プラズマ
粉末供給装置
巻取式電子ビーム蒸着装置
粗品 (ノベルティ) のご案内
ブースご来場の方にJEOLオリジナル文具セット (ボールペン「ブレン」、スティックノリ「GLOO」)※1 もしくは、携帯はさみフィットカットカーブ「Twiggy」※2をプレゼント致します。
※1: ブレン (ゼブラ社製) 、GLOO (コクヨ社製) ※2: Twiggy (プラス社製)
ダウンロードした引換券をプリントアウト、もしくはスマートフォン等で引換券をスクリーンショットしてJEOLブースの受付までお越しください。
数量に限りがありますので、お1人様1個までとさせて頂きます。 いずれかの粗品が無くなった場合は、ご希望の品をご提供できない場合がございます。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部
担当: 廣川 (ひろかわ)
TEL: 03-6262-3560・FAX: 03-6262-3577
E-mail:jeol_event[at]jeol.co.jp
※[at]は@と置き換えてください