日本顕微鏡学会 第80回学術講演会
6月3日（月）～ 6月5日（水）幕張メッセ 国際会議場にて開催される、日本顕微鏡学会第80回学術講演会に参加いたします。
学会講演・冠ワークショップにつきましては参加登録をされた方のみ聴講できますが、顕微鏡体験ワークショップ、企業展示、ランチョンセミナーにつきましてはどなたでも参加できます。
企業展示ブースでは新製品である電子顕微鏡 JEM-120iのお披露目として、6月3日（月）13：00～序幕式を行います。またその後実機を使用してファンクションデモを行います。
皆様のご来場をお待ちいたしております。
顕微鏡体験ワークショップのみ事前申し込みが必要です
開催日/会場
日程:
2023年6月3日（月）～ 6月5日（水）会場:
幕張メッセ 国際会議場
顕微鏡体験ワークショップ
日時：
6月2日（日）15:00～16:30場所：
幕張メッセ 国際会議場3F 304号室定員：
60名
小学生の場合には、保護者同伴でお願いします。
「発見！探検！ミクロの世界」
誰でも使える日本電子の走査電子顕微鏡NeoScope™を使ってミクロの世界の美しい構造や機能を発見！探検！しましょう。
事前の申し込みが必要になりますので、下記お申し込みボタンより申し込みを行ってください。
企業展示
実機デモ及びアプリケーションパネルを展示致します。
場所：幕張メッセ 国際会議場 2Fコンベンションホール
6月3日(月）10：00～17：30
6月4日(火） 9：00～17：30
6月5日(水) 9：00～15：00
ランチョンセミナー
6月3日(月）12：00～12：50
会場：幕張メッセ 国際会議場 3F D会場
①「より身近なツールへ進化した最新電子顕微鏡システムのご紹介」
講演者：
濱元 千絵子所属：
日本電子株式会社 EM事業ユニット
②「日本電子が提供する新しい統合ソフトウェア"FEMTUSTM"の紹介」
講演者：
橋口 裕樹所属：
日本電子株式会社 EM事業ユニット
6月4日(火）12：00～12：50
会場：幕張メッセ 国際会議場3F D会場
①「クライオ電子顕微鏡法用試料作製装置 CRYO-FIB-SEMの紹介」
講演者：
水野 議覚所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット
②「FIB-SEM JIB-PS500iのご紹介 ～TEM試料作製から非暴露・3次元分析まで～」
講演者：
中島 雄平所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット
③「In-situ 充放電観察・分析システムを用いた全固体電池 Si負極の事例紹介」
講演者：
木村 達人所属：
日本電子株式会社 EP事業ユニット
冠ワークショップ
日時：
6月3日(月）17：30～18：00場所：幕張メッセ 国際会議場 2F B会場
「統合分析プラットフォームFEMTUSTMの開発その機能と応用」
講演者：
奥西 栄治所属：
日本電子株式会社 EM事業ユニット
関連リンク
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp
- ※[at]は@にしてください
