FIB-SEM による三次元測定の原理と応用例
公開日： 2019/03/26
FIB-SEMは加工装置のFIBと観察装置のSEMを組み合わせた装置で、加工、観察を自動で繰り返し、連続した断面観察像を収集できます。また、観察だけでなく、元素分析、結晶方位解析も併せて測定することが可能です。収集した連続データを三次元再構築ソフトで再構築することにより、三次元的な解析が行えます。
本セミナーでは、FIB-SEMによる三次元測定方法をご説明すると共に、その応用例もご紹介します。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2019年7月19日(金) 16:00～16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員: 200名
※先着順での受付となります。お早目にお申込みください。
お申し込み方法
- 以下のURLからお申し込み画面にアクセスしてください。
https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e4fcd36ed85e19a6d21093dc3bd02ff07
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お問合せ
- 日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
担当: 廣川（ひろかわ）・嶋田（しまだ）
TEL: 03-6262-3560
動画
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