JEOL・リガク ジョイントセミナー ～最新の分析・解析技術のご紹介～
公開日： 2019/11/05
この度、日本電子株式会社と株式会社リガクとの共催により「JEOL・リガク ジョイントセミナー ～最新の分析・解析技術のご紹介～」を開催いたします。
本セミナーでは、2019年9月に開催されたJASIS2019新技術説明会にて、ご好評いただきました両社の演題を中心に、最新の分析・解析技術のご紹介と、関連装置の実機展示を予定しております。
時節柄大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう謹んでお願い申し上げます。
共催: 日本電子株式会社・株式会社リガク
開催日/会場
- 日程:
2019年11月29日(金) 13:00～17:30 (受付開始 12:30～) - 会場:
日本電子株式会社 西日本ソリューションセンター
〒532-0011
大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1F
地図
TEL: 06-6305-0121 - 交通アクセス:
JR「新大阪」駅 正面口 徒歩5分
地下鉄御堂筋線「新大阪」駅南口（7番出口） 徒歩2分
お申し込み
- 参加費:
無料 (事前登録制) - 定員:
40名 (先着順) - お申し込み方法:
※お申し込みを締め切りました。ご応募ありがとうございました。
プログラム
| 12:30～ | 受付 |
| 13:00～13:10 | 開会挨拶 |
| 13:10～13:40 | 質量分析の基礎 ～原子や分子の質量を測定するには？～ 日本電子株式会社 |
| 13:40～14:10 | 熱分析とガス分析の融合 ～TG-MASS、TG-FTIRの基礎と応用～ 株式会社リガク |
| 14:10～14:40 | 卓上走査電子顕微鏡を使った光-電子相関法 (CLEM) ～JCM-7000NeoScope™の新機能とCLEM (Correlative light electron microscopy) 応用例～ 日本電子株式会社 |
| 14:40～15:00 | 休憩 / コーヒーブレイク ＆ 装置見学 |
| 15:00～15:30 | X線CTによる高精度材料分析 ～高分解能、高精細X線cT装置による3次元画像解析のご紹介～ 株式会社リガク |
| 15:30～16:00 | 最新の分析装置を利用した表面・界面の分析事例の紹介 日本電子株式会社 |
| 16:00～16:30 | X線による材料分析の新しいアプローチ ～PDF (Pair Distribution Function) 解析による局所構造解析と微小部X線回折分析のご紹介～ 株式会社リガク |
| 16:30～16:40 | 閉会挨拶 |
| 16:40～17:30 | 質問タイム |
- プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
- 駐車場はございませんので、公共交通機関をご利用下さい。
- お申し込みから1週間経過後、弊社より返信が届かない場合、恐れ入りますがお問合せ先までご連絡ください。
- キャンセルまたは出席者変更の場合は前日までにご連絡ください。それ以降の出席者変更は当日受付にてお伺いいたします。
日本電子問い合わせ先
日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部
担当：井上(いのうえ)・浅冨(あさとみ)
〒100-0004 東京都千代田区大手町2-1-1 大手町野村ビル13F
TEL：03-6262-3560 FAX：03-6262-3577
E-mail：yokogushi[at]jeol.co.jp
※上記の[at]は@に置き換えてください
