アレイトモグラフィーによる高立体角EDSを用いた3D元素マッピング
公開日: 2020/01/08
アレイトモグラフィーは連続した超薄切片を観察することで3D画像が取得できる方法として広く一般に用いられています。
最近では、バイオやソフトマテリアルは単一構造から有機−無機物との複合材料が解析対象となりつつあり、3D観察のみから高画質な3D元素マッピングの要求もでています。
そこで、アレイトモグラフィーに高分解能型FE-SEM JSM-7900Fと高立体角なBruker社製XFlash5060FlatQuadを組み合わせた3D元素マッピング法を検討しました。FlatQuadは試料直上に配置されるEDS検出器であり、試料と検出器の距離が近いために超高立体角を実現しました。このため、生物試料の超薄切片のように特性X線の発生量が少ない試料であっても、短時間でEDSマップを取得することができます。
本セミナーでは、このEDS検出器の特長と、連続した超薄切片にEDSを応用した3D EDS元素マッピングの応用例をご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
主催: 日本電子株式会社
開催日/詳細
- 日程:
2020年2月7日(金)16:00~16:30
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参加費/定員
- 参加費:
無料 - 定員:
200名
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お申し込み方法
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https://jeolg.webex.com/jeolg/onstage/g.php?MTID=e949574a6eee1954a7852984503d13fa1
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お問合せ
- 日本電子株式会社
ブランドコミュニケーション本部 ブランド企画推進部 企画グループ
担当: 廣川(ひろかわ)・嶋田(しまだ)
TEL: 03-6262-3560