ビギナーから使える！透過電子顕微鏡JEM-F200の可能性！-従来の手法からその場観察、結晶方位回折まで-
公開日： 2021/09/13
多目的電子顕微鏡JEM-F200を使用した、様々な解析事例や研究成果を紹介します。
JEM-F200で取得した基礎データの紹介も行います。
応用データとしては磁性体サンプルを用いた結果や、その場観察ホルダーを使用したデータ、結晶方位解析装置を使用した解析例などユニークな結果の数々をご覧いただければと思います。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- JEM-F200の基本性能
- JEM-F200で使用できるアタッチメント
- アタッチメントより得られる結果
"参加いただきたいお客様"
- JEM-F200の基本性能を知りたいお客様
- TEMを使ってどのようなデータが得られるか？に興味があるお客様
- 従来の観察手法だけでなく、色々なことをTEMを使用してやりたいお客様
講演者
福永啓一 / 村山晴佳
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
開催日/詳細
- 2021年11月19日 (金) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
関連製品
- JEM-F200 多機能電子顕微鏡
- Nanomegas社製 TOPSPIN P2010
- Protochips社製その場観察ホルダー（加熱、電圧印加、ガス環境、液中）
- Gatan社製 冷却ホルダー636
発表資料
- 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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