視野カットなし！ ダイナミックな細胞観察のご紹介
公開日： 2021/12/15
TEM観察において、グリッドのバーによる視野カットが原因で広域のデータを得ることが難しい場合があります。通常はバーのない単孔グリッドを使うことが多いですが、支持膜が破れやすいため取り扱いが難しく、切片の回収には慣れが必要です。
弊社の提供するSiN Window Chipは視野カットなしで観察できるだけでなく、強度が高いため破れにくく、取り扱いが非常に簡単です。
本セミナーでは、JEM-1400FlashとSiN Window Chipを用いて、植物細胞のアレイトモグラフィーを行った事例をご紹介します。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。
"このウェビナーから学べること"
- JEM-1400Flashの基本性能
- SiN Window Chipの特長
- SiN Window Chipを使ったアプリケーション
"参加いただきたいお客様"
- 広域観察を行っている方
- 連続切片作製にお困りの方
- TEMアレイトモグラフィーに興味をお持ちの方
講演者
青木 遥
EM事業ユニット
EMアプリケーション部
第2グループ
第2チーム
開催日/詳細
- 2022年2月1日 (火) 16:00～17:00
講演後に質疑応答の時間があります。
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発表資料
- 講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
- 無料（先着順での受付となります。お早目にお申込みください。）
お申し込み方法
ウェビナーは、終了しました。
動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。
お問合せ
- 日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
動画
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