Solutions for Imaging & Microanalysis of Lithium Ion Batteries using SEM, EPMA (Electron Probe Micro Analyzer), SXES, and Auger
公開日： 2022/10/26
本ウェビナーは「Advanced Techniques in Lithium Ion Batteries and Next Generation Battery Material Characterization」シリーズ (計３ウェビナー) の第一弾です。
本ウェビナーでは、2つの分野を取り上げます。１つが、日本電子の大気非曝露クロスセクションポリッシャ™による試料作成、SEMによるイメージング、エネルギー分散型X線分光器 (EDS) による分析に焦点を当てます。もう1つが、電界放出型電子プローブマイクロアナライザ (FEG EPMA) と波長分散型分光器 (最大5WDS＋EDS)、日本電子独自の軟X線発光分光器 (SXES)、オージェマイクロプローブによる先端電池分析データについて紹介します。
JEOL USAによるウェビナーですが、外部媒体主催のウェビナーシリーズです。 英語での講演となります。
開催日/詳細
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日時: 2022年10月28日 (金) 3:00 AM (日本時間)
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場所: WEB
参加費
無料（お早目にお申込みください。）
関連製品
お申し込み方法
英文サイトが開きます。
お問い合わせ
日本電子株式会社
SI営業本部 海外SI営業 米州グループ 矢島太則
E-mail: tyajima[at]jeol.co.jp
※ [at]は＠に、ご変更ください。
