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CP耳寄り情報!短時間加工のコツ

公開日: 2023/03/31

CP (クロスセクションポリッシャ™) は、SEMの断面作製装置として広く普及しています。近年では、電子部品の層構造の確認や接合部などの品質管理にもCPが使用されるようになり、断面試料を短時間で効率よく作製することが求められています。本ウェビナーでは、前処理方法、加工条件にフォーカスして、CPによる短時間加工について、実用例を示し基本的なポイントについてご紹介します。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

このウェビナーから学べること

  • アルゴンイオン断面試料作製装置 (CP) の原理

  • 短時間加工のためのCP前処理のポイント

  • 短時間加工のためのCP加工のポイント

参加いただきたいお客様

  • 試料の内部を解析されている方

  • CPやFIBを使用されている方

  • CP短時間加工を求められている方

講演者

應本 玉恵

EPアプリケーション部
SEMグループ
第3チーム

開催日/詳細

  • 2023年4月28日 (金) 16:00~17:00

  • 講演後に質疑応答の時間があります。

関連製品

断面試料作製装置 (CP)

走査電子顕微鏡 (SEM)

電子プローブマイクロアナライザ (EPMA)

オージェマイクロプローブ (Auger)

集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)

発表資料

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。

参加費

無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

お申し込み方法

ウェビナーは、終了しました。

動画を公開しておりますので、下記よりお申込みください。

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。

動画

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