第16回 SEMユーザーズミーティング (東京)
公開日： 2023/05/11
本年のSEMユーザーズミーティングは、会場で開催するとともにWEBでの同時配信を予定しております。
例年同様、外部講演の先生方を含め、さまざまな分野を網羅した新技術や実践的技術などの役立つ情報をご提供いたします。
また、会場では日本電子の各種製品のご紹介コーナー、ならびに協賛企業の製品紹介コーナーを設置します。
講演終了後には懇親会を予定しておりますので、情報交換の場として有意義にご歓談いただければ幸いです。
当ユーザーズミーティングは弊社装置をお使いの方に限らず、他社装置をお使いの方、装置にご興味がある方、どなたでもご参加できる無料のセミナーです。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。
ご連絡
- 新型コロナウイルス感染症予防対策といたしまして、今後の状況次第では開催方法に変更等が発生する場合がございます。あらかじめご了承ください。
- 「会場での参加を希望」にチェックされた方は当日会場までお越しください。
ご来場の際、受付でお名刺を2枚頂戴いたします。お手数ですが事前にご用意をお願いいたします。 - 予稿集 (冊子) は会場参加の方のみに配布いたします。
- オンライン参加の方でご希望の場合は、開催終了後に担当営業までご連絡ください。
- 各講演の質問は会場参加の方のみお受けいたします。
- オンライン参加の方は終了後のアンケートにご記入ください。
- 開催終了後、配布資料のダウンロードおよび、ホームページに発表動画の掲載は行いません。
- 同業他社様、代理店様のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
開催日
2023年11月21日 (火)
お申し込み締め切り
2023年11月20日 (月)まで
会場
浅草橋ヒューリックホール
〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
地図はこちら
アクセス
JR総武線「浅草橋駅 (西口)」より徒歩1分
都営浅草線「浅草橋駅 (A3出口)」より徒歩2分
※1階のオフィスエントランスからは来場いただけません。外階段、又は外エレベーターから2階へご来場をお願いします。
参加費
無料
プログラム
| 時間 | 題名 要旨 |
講演者 |
|---|---|---|
| 9:30～ | 受付 | |
| 10:00～10:10 | 開会挨拶 | |
| 10:10～10:40 | 新型FIB-SEM JIB-PS500iの紹介
最近の半導体デバイスの複雑化に伴い、微細な目的箇所で、高品質なSEM・TEM用試料を作製することが求められています。その要求に応えるために、「目的箇所を正確に認識するSEM性能」、「加工ダメージを最小限に抑えるFIB性能」、「加工から観察までのスムーズかつ安全な操作性」を備えるJIB-PS500iが開発されました。本講演ではJIB-PS00iの特長とアプリケーションについてご紹介いたします。 |
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 中島 雄平 |
| 10:40～11:15 | 地衣類中の放射性セシウムをミクロレベルで"視る" 〜分析装置の組み合わせで実現した微小領域分析〜 東京電力福島第一原子力発電所事故により環境中に沈着した放射性セシウムの物理化学的な状態を明らかにすることは、放射性セシウムの挙動を知る上で重要です。ここでは、長期間放射性セシウムを保持すると言われる"地衣類 (藻類と共生する菌類の総称)"を研究対象として、電子顕微鏡などの分析装置を組み合わせることにより、生体組織中の放射性セシウムを"視た"事例について紹介します。 |
日本原子力研究開発機構 土肥 輝美 様 |
| 11:15～11:45 | SEMによる粒子解析に適した試料分散方法の紹介
粉体材料は、3D造形や電池材料、化粧品など、様々な分野で使用されており、それらの製品の特性に応じた大きさや形状の管理が重要です。粒子がμmからnmオーダーの大きさの場合、走査電子顕微鏡 (SEM) を用いた粒子解析が有効です。SEMの粒子解析は、基板上に粒子を分散して測定を行いますが、粒子同士が重なっていると粒子の正確な大きさを得ることが困難になります。したがって、正確な測定には粒子を適切に分散させることが重要です。本講演では、SEMの粒子解析に適した分散方法を粒子サイズごとに検討した結果を紹介します。 |
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 高山 隼 |
| 11:45～12:15 | 昼食 | |
| 12:15～13:00 | 実機・ポスター展示 | |
| 13:00～13:30 | 長時間！高品質！SEM自動測定の秘訣
SEM (Scanning Electron Microscope) の自動測定用ソフトウェアを用いると長時間の自動測定が行えますが、良いデータを取得し続けるためにはいくつかのポイントがあります。長時間にわたり安定したデータ取得を行うために押さえておくべきポイントや画像解析ソフトウェアで認識しやすいデータ取得方法、Pythonを用いた自由な制御方法などをご紹介します。 |
日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 河野 林太郎 |
| 13:30～14:05 | データ・ロボット駆動科学における計測分析機器の新しい活用法 〜新しい研究開発の進め方で研究開発を加速する〜 機械学習とロボット、そしてデータを活用した、データ・ロボット駆動科学が急速に発展してきている。海外の動きは極めて速い。この波の中で、計測分析機器はどのように変化していくのか、そして、我々、研究者・技術者はどう変わらねばならないのかを議論する。さらに、人材育成についても議論をしたい。 |
国立大学法人東京大学 一杉 太郎 様 |
| 14:05～14:35 | 全固体電池in-situ観察・分析の最新機種を用いた事例紹介 ～CP-SEM-EDS～ 全固体電池の研究・開発において、充放電中のメカニズムや劣化過程のリアルタイム観察・分析は効率的で持続可能なカーボンニュートラル社会に貢献するためにも必要な技術になっています。構成材料の挙動や界面の特性を理解するため、本講演では脆い試料でも平滑な断面加工が可能な「クロスセクションポリッシャ™」、高分解能観察が可能なFE-SEM「JSM-IT800」、Liから分析可能なウィンドウレスEDS「Gather-X」を使用し、全固体電池の負極材に注目したin-situ観察・分析の事例をご紹介します。 |
日本電子株式会社 EP事業ユニット EP技術開発部 木村 達人 |
|
日本電子株式会社 EX事業ユニット EX技術開発部 柳原 孝太 |
||
| 14:35～15:05 | 休憩/実機・ポスター展示 | |
| 15:05～15:40 | 定量的なSEM像評価の試みと低加速電圧でのEDSの活用例の紹介
極低加速電圧FE-SEM JSM-IT800iを用いて、ハードディスクのパーツを対象にした、SEM像におけるコントラストの定量評価と低加速電圧下でのEDSによる低エネルギーX線検出の応用事例の紹介を行います。 |
ウエスタンデジタルテクノロジーズ合同会社 松村 純宏 様 |
| 15:40～16:10 | 信号量を増加させるためのテクニック 〜明るく観察しやすいSEM像を得るために〜 「像が暗くてフォーカスが合わせにくい」「目的箇所を探すのに時間がかかる」という事はありませんか？そのお悩み、ちょっとしたテクニックで改善するかもしれません。走査電子顕微鏡では、試料形状・前処理・観察条件などにより、信号量が少なく観察が困難になる場合があります。本発表では信号量を増加させ、より容易にSEM観察を行うためのテクニックをご紹介します。 |
日本電子株式会社 科学・計測機器サービス事業部 サービス企画推進本部 R&D推進部 八幡 英里香 |
| 16:10～16:20 | 閉会挨拶 | |
| 16:20～17:30 | 懇親会/実機・ポスター展示 |
※プログラムは予告なく変更になる場合がございます。あらかじめご了承くださいますようお願い申し上げます。
消耗品ご優待販売キャンペーン
10％OFFにて、売れ筋の消耗品をピックアップいたします。
キャンペーン期間：2023年11月24日 (金) ～ 12月28日 (木)
お申し込み方法
お申し込み締め切りを過ぎたため受付を終了しました。
お問い合わせ
日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
E-mail： jeolum[at]jeol.co.jp
- [at]は＠に、ご変更ください。
