第16回 TEMユーザーズミーティング

公開日： 2023/05/11

TEMユーザーズミーティングは、会場での開催を予定しております。オンラインでの配信はございません。
例年同様、外部講演の先生方を含め、さまざまな分野を網羅した新技術や実践的技術などの役立つ情報をご提供いたします。
また、会場では日本電子の各種製品のご紹介コーナー、ならびに協賛企業の製品紹介コーナーを設置します。
講演終了後には懇親会を予定しておりますので、情報交換の場として有意義にご歓談いただければ幸いです。
当ユーザーズミーティングは弊社装置をお使いの方に限らず、他社装置をお使いの方、装置にご興味がある方、どなたでもご参加できる無料のセミナーです。
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

ご連絡

新型コロナウイルス感染症予防対策といたしまして、今後の状況次第では開催方法に変更等が発生する場合がございます。あらかじめご了承ください。
ご来場の際、受付でお名刺を2枚頂戴いたします。お手数ですが事前にご用意をお願いいたします。
開催終了後、配布資料のダウンロードおよび、ホームページに発表動画の掲載は行いません。
同業他社様、代理店様のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。

開催日

2024年1月19日 (金)
※ お申し込み締め切り 2024年1月17日（水）

会場

浅草橋ヒューリックホール
〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
地図はこちら

アクセス

JR総武線「浅草橋駅 (西口)」より徒歩1分
都営浅草線「浅草橋駅 (A3出口)」より徒歩2分

参加費

無料

プログラム

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時間	題名要旨	講演者
9:30	受付
10:00～10:10	開会挨拶
10:10～10:30	新型 FIB-SEM JIB-PS500iの紹介～JEOLが提供する TEM試料作製ソリューション～ FIB-SEMは、TEM用の試料作製装置として必要不可欠であり広く応用されている。近年ではTEMの高分解能化が進み、それに伴いTEM試料もより高品質なものを要求されている。我々はその要求に応えるために、新型FIB-SEM JIB-PS500iを開発した。さらにJIB-PS500iは、試料ハンドリングを見直してTEMとのリンケージを強化し、FIBからTEMへ容易で確実な試料搬送を実現。本講演では、JIB-PS500iのTEM試料作製に役立つソリューションに関して実試料による応用例を絡めて紹介する。	日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部門井美純
10:30～10:50	統合ソフトウェア FEMTUS^TMの紹介透過電子顕微鏡は単なる観察装置ではなく、様々なオプションを用いることで総合的に物質の性質を解析できる手法である。そのため、TEMを用いて得られるすべての情報を統合して扱うためのプラットフォームが求められている。そのプラットフォームとして日本電子ではFEMTUS^TMを開発した。また、FEMTUS^TMは日本電子製品だけでなく他社の製品も取り込む開いたプラットフォームを目指している。今回の発表では、EDSを具体例としてFEMTUS^TMの機能を紹介する。	日本電子株式会社 EM事業ユニット EMアプリケーション部島政英
10:50～11:30	嗅覚系脳神経回路の三次元デジタル構造解析～Correlated Laser and Volume EM Study～嗅覚系一次中枢の嗅球は明瞭な層構造に豊富な化学物質を含むニューロン構成から基本的脳神経回路構造モデルとして注目されている。本講演ではレーザー顕微鏡と電子顕微鏡を組み合わせた統合的形態解析の研究結果をまとめて紹介し、更に、動物個体や遺伝子レベルでのニューロンの新たな選択的標識によって、嗅覚系への様々な調節機構の構造解析の最近の我々の解析知見を示す。同時に電子顕微鏡解析の発展の可能性を共に考えたい。	川崎医科大学樋田一徳様
11:30～11:50	IDES製品を用いた、最新の観察と分析手法の紹介近年、従来の観察や分析に加えて、電子線ダメージ低減、in-situ、時間分解能など様々な要求が増えて来ている。従来の装置では、これらの要求に答えるために専用の装置が必要であった。しかし、IDES製品では、アタッチメントとして装置に装着するだけで、従来の装置でもこれらの要求に答えられるようになる製品が多数存在する。本発表では、これらを用いた最新の観察、分析手法について紹介する。	日本電子株式会社 EM事業ユニット EMアプリケーション部橋口裕樹
11:50～12:20	昼食
12:20～13:30	実機・ポスター展示
13:30～14:10	EDMを利用した TEM内熱輸送計測法の紹介熱電変換材料、放熱用複合材料、熱デバイスなどにおけるミクロスコピックに起こる熱輸送現象を理解するための新たなナノスケール熱輸送評価法の開発が求められている。本グループでは微小熱電対による温度計測法と電子線による局所加熱を組み合わせたSTAM法の開発を進めてきたが、新たに電子線がパルス化できるIDES社製EDMを、日本電子製JEM-3100FEFに導入することで、温度波を利用した新たなナノ熱輸送評価を実現した。上記についてご紹介する。	国立研究開発法人物質・材料研究機構川本直幸様
14:10～14:50	液体セル透過型電子顕微鏡その場観察の現状と課題～これまでに何が見えていて、次に何を見にいくか～近年、透過型電子顕微鏡を用いて水溶液中の現象を観察できるようになり、様々な分野で注目されてきた。一方で、実際には目的とする試料の観察や溶液内の動的現象を捉えるには工夫が必要なことが多く、観察例も当初の期待に比べると限られているのが現状である。本講演では、そのボトルネックに対して、加熱、冷却、パルス電子線、レーザー照射、機械学習などを駆使して水溶液中の試料と、その動的な変化を捉えた観察例を紹介する。	北海道大学低温科学研究所木村勇気様
14:50～15:30	休憩 /実機・ポスター展示
15:30～15:50	マシンビジョンによる In-Situ観察 TEMワークフロー・ソリューション Protochips社は、この度、その場観察に最適化したエンドツーエンド・ワークフロー・ソリューションを開発した。MEMS技術を用いたその場観察ホルダーのパイオニアとして培った数十年の経験を活かし、初心者から熟練者までのすべてのユーザーが、その場観察データ取得から解析までのあらゆるメタデータを容易に利用できるソリューションを提供する。また、ユーザーの技量にかかわらず、最適なパフォーマンスが得られるように用途に合わせたワークフローの調整を行うことも可能。これにより、研究の目標に合わせてカスタマイズが可能で、TEMを用いたその場観察およびデータ解析に至る時間を大幅に短縮することができる。本講演では、その一例として、エネルギーおよびバッテリー関連物質の開発や最適化を目指した液中観察ホルダーによる電気化学解析を紹介する。	Protochips Joe Sanguedolce
15:50～16:40	JEOLと私私の長年に亘るJEOLとの関わりについて、収束電子回折やEELSについての装置の開発、風戸研究奨励会での活動、科学技術振興機構の研究総括としての電子顕微鏡、NMRなどの装置開発、手法の開発やその後のTEMおよびSEMの専門用語の解説活動などについて述べる。	国立大学法人東北大学 /日本電子株式会社顧問田中通義様
16:40～16:50	閉会挨拶
16:50～18:00	懇親会 /実機・ポスター展示