コベルコ科研×日本電子
二次電池 in-situ SEM / Windowless EDSセミナー
公開日: 2024/03/18
この度、株式会社コベルコ科研と日本電子株式会社は共催で、二次電池セミナーを実施することとなりました。
液系リチウムイオン電池、全固体電池の評価に必須となる走査型電子顕微鏡(SEM)観察の最新アプリケーションとして、in-situ SEMと、Liの分析に対応したWindowless EDSを中心に、設備・機能と実サンプルを用いた分析・解析事例を紹介します。今回は一部の分析アプリケーションの紹介となりますが、皆様の課題に少しでもお役に立てられる様、一同で皆様の参加をお待ちしております。
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

開催日/定員/共催
日時:
2024年4月19日(金) 13:00~14:30
講演後、質疑応答の時間があります
定員:
500名
(定員になり次第締め切りいたします)
共催:
株式会社コベルコ科研、日本電子株式会社
※コベルコ科研および日本電子の同業他社企業様の参加はご遠慮いただく場合があります。
プログラム
時間 | 演題 / 詳細 | 講演者 |
---|---|---|
13:00~13:45 | マニピュレータ+SEM複合装置を用いた Li析出In-situ観察とシミュレーション リチウムイオン電池の課題の一つとして、充放電の金属Li析出による短絡が挙げられ、全固体電池では固体電解質の挙動との関りから、高分解能な可視化技術が望まれています。本報告では従来から実施している断面方向からのin-situ SEM観察に加え、日本電子製FE-SEM、JSM-IT800‹SHL›にマニピュレータを組み込み、局所的に電圧印加することによって観察領域にLi析出させ析出形態や挙動を詳細調査した結果と、固体電解質界面におけるLi析出シミュレーション事例について報告します。 |
![]() 株式会社コベルコ科研 技術本部 物理解析センター |
13:45~14:30 |
リチウムイオン電池ソリューションをアシストするFE-SEMおよびアタッチメントのご紹介 リチウムイオン電池の材料開発や解析に走査電子顕微鏡は広く用いられています。また各分析アタッチメントや環境制御用アタッチメントと組み合わせることにより、精度の高い解析が行えます。本セミナーでは弊社製電界放出型走査電子顕微鏡JSM-IT800SHL、ウインドウレスEDS検出器DrySDTM Gather-X、軟X線発光分光器、冷却非曝露クロスセクションポリッシャTM、拘束式In-situ充放電ホルダの機能紹介とそれらを用いたリチウムイオン電池のアプリケーション事例紹介を行います。 |
![]() 日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 |
※プログラムは変更される場合があります。予めご了承ください。
発表資料
講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。
参加費
無料 (先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
お申し込み方法
下記よりお申し込みください。
登録・参加方法の詳細はPDFをご覧ください。
ウェビナーはZoomで開催します。Zoomにはテストミーティングの機能が用意されておりますので、始めて利用されるお客様にはテストをお勧めします。「詳細はこちら」をご覧ください。
競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お問い合わせ
日本電子株式会社
デマンド推進本部 ウェビナー事務局
sales1[at]jeol.co.jp
- [at]は@に、ご変更ください。