第17回 SEMユーザーズミーティング東京

公開日： 2024/08/26

お申し込みを締め切りました。

本年のSEMユーザーズミーティング東京は、会場で開催すると同時にWEBでの同時配信を予定しております。
例年同様、外部講演の先生方を含め、さまざまな分野を網羅した新技術情報や実践的技術情報の発表を企画しています。
また、会場ではポスター展示や装置紹介コーナー設置を予定しております。
講演終了後には懇親会を予定しておりますので、ユーザーの皆様と弊社スタッフの情報交換の場として有意義にご歓談いただければ幸いです。
当ユーザーズミーティングは弊社装置をお使いの方に限らず、他社装置をお使いの方、装置にご興味がある方、どなたでもご参加できる無料のセミナーです。 
ご多忙の折とは存じますが、皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。

ご連絡

• ご来場の際、受付で名刺を２枚頂戴いたします。お手数ですが、事前にご用意をお願いいたします。
• 同業他社様、代理店様の方々のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
• 予稿集（冊子）につきましては、会場参加の方のみに配布いたします。
  オンライン参加の方で予稿集(冊子)をご要望の方は、弊社担当営業までご依頼ください。なお、デジタルデータの提供は行いません。
• 各講演の質問につきましては、会場参加の方のみお受けいたします。オンライン参加の方で講演のご質問がある方は、終了後のアンケートにご記入ください。
• 開催終了後、ホームページに発表動画の掲載は行いません。

開催日

2024年10月30日 (水)

会場

浅草橋ヒューリックホール
〒111-0053 東京都台東区浅草橋1-22-16 ヒューリック浅草橋ビル 2階
地図はこちら

参加費

無料

プログラム

PDFはこちら(338 KB)

時間	題名 要旨	講演者
9:30～	受付
10:00～10:10	開会挨拶
10:10～10:40	ネットワークで遠隔操作！ IoT クロスセクションポリッシャ™ IB-19540CP, IB-19550CCPの紹介 新しく開発された遠隔操作対応クロスセクションポリッシャ™(CP)を紹介します。IoT化されたCPは、離れた場所にある複数のCPに対して、加工状態の確認や加工条件の変更等が行えます。 また10 kV化されたハイスループットイオンソースにより、加工時間が短縮され、作業効率化が向上しました。さらに多様な機能ホルダーと冷却等のアタッチメントを組み合わせる事で、多種多様な試料に対して、上質な加工が行えます。	日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 長谷部 祐治
10:40～11:10	FIB-SEM JIB-PS500iの紹介 ～TEM試料作製から三次元測定まで～ 局所的な微細構造解析には高分解能観察が可能なTEMが有効ですが、広視野での三次元解析にはFIB-SEMが適しています。JIB-PS500iは、半導体デバイスなどの微細構造を持つ試料に対して、高品質なTEM試料作製とナノスケールでの三次元解析を提供できる高性能FIB-SEMです。また、非曝露搬送機構を備えており、大気と反応しやすい試料の加工と観察にも効果的です。本講演では、JIB-PS500iの多彩な特長とそのアプリケーションについてご紹介します。	日本電子株式会社 EP事業ユニット EPアプリケーション部 中島 雄平
11:10～11:45	複合ビーム加工装置による金属構造材料の材料組織マルチ評価 ～材料組織の可視化と定量評価による新たな発見をめざして～ 名古屋工業大学では、電子線後方散乱解析(EBSD)カメラ、エネルギー分散型X線分光装置 (EDX) および走査透過電子顕微鏡検出器 (STEM) などが付随した複合ビーム加工装置 (FIB-SEM、JIB4700F) を導入し、多方面からの材料組織評価や組織3次元可視化を可能にしている。本講演では、アルミニウム合金や鉄鋼材料など構造材料を中心に、FIB-SEMやEBSDによる組織3次元可視化事例や残留応力解析事例などについて紹介する。	国立大学法人 名古屋工業大学 佐藤 尚 様
11:45～12:15	昼食
12:15～13:00	実機・ポスター展示
13:00～13:30	新型FE-SEM JSM-IT810の紹介 近年、走査電子顕微鏡への観察や分析における自動化技術のニーズが増加しています。 弊社では次世代型電子光学制御システム"Neo Engine"、使い勝手を考慮したZeromagやEDSインテグレーションを搭載したJSM-IT800へ、新たに自動観察分析機能である"Neo Action"や、SEMアライメント、倍率、EDSエネルギー校正を自動で調整する機能を追加したJSM-IT810を開発しました。 本講演ではJSM-IT810の特長と応用事例についてご紹介致します。	日本電子株式会社 EP事業ユニット EP技術開発部 新美 大伸 名越 達郎
13:30～14:00	電子ビーム金属3Dプリンター JAM-5200EBM と造形物の金属組織観察例の紹介 近年の製造業、特に高付加価値化が求められる航空・宇宙分野を筆頭に、燃料消費の削減や出力の向上の実現、更には開発・製造コストの削減や開発期間の短縮が求められています。その要求に応えるため、複数部品の一体形成化やパーツの軽量化、より複雑なデザイン部品の製作が可能な製造装置として、電子ビームを用いて粉体を溶融し任意形状のパーツを造形できる金属3Dプリンター、JAM-5200EBMが開発されました。 本講演では、JAM-5200EBMの特長とアプリケーション、そして本装置にて形成される金属造形体の結晶組織の観察・評価事例を紹介します。	日本電子株式会社 3D積層造形プロジェクト 小岩 康三
14:00～14:35	文化財・美術工芸材料の微細構造を探る 私達が現在のような文明の中で生きていられるのは、遠く、数千前の初歩的な技術の開発に端を発します。そして、多くの経験から物づくりの経験則を見出し、やがて、物理・化学法則の発見にたどり着きました。人類の歴史の中で、物づくりの基本となる物質・材料がどのような内部微細構造を持っているか、を知ることは、見かけだけではない真の歴史を知ることになります。これには、各種の分析機器が力を発揮します。本講演では、これまで研究されていなかった金属、絵画、工芸品、美術工芸材料などの文化財の微細構造を電子顕微鏡などで観察・分析した結果をいくつか紹介します。	東京藝術大学 北田 正弘 様
14:35～15:05	休憩/実機・ポスター展示
15:05～15:40	安定同位体標識生物試料の二次イオン質量分析-微細構造相関解析 ほとんどすべての陸上植物は根と真菌との共生器官である菌根を形成している。菌根組織では植物の炭素と菌根菌のリンや窒素がそれぞれ交換される。菌根は宿主植物の生育を支え、生存率・乾燥・病害耐性を上げるなど、陸上における炭素吸収に重要な共生である。本発表では、植物-菌根菌間での物質の受け渡しを微細構造レベルで明らかにするための、安定同位体標識組織を用いた二次イオン質量分析イメージング-電子顕微鏡相関解析法について紹介する。	国立大学法人 広島大学 久我 ゆかり 様
15:40～16:10	EDS-MAPのコツ！ ～データの取得方法から解析まで～ EDS-MAPでは、試料中に含まれる元素の分布を視覚化することが可能です。 しかしMAPの測定条件や取得したデータの解釈にお困りの方もいらっしゃるかと思います。 そこで本発表では、MAPの測定条件の設定のコツや、データ取得後の解析方法、便利な機能についてお伝えします。	日本電子株式会社 ソリューション開発センター ソリューション推進部 八幡 英里香 EX事業ユニットEX技術開発部 藤井 敦大
16:10～16:20	閉会挨拶
16:20～17:30	懇親会/実機・ポスター展示

＊プログラムは予告無く変更させていただく場合がございます。予めご了承頂きますようお願い申し上げます。

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お申し込み方法

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お問い合わせ

日本電子株式会社
ユーザーズミーティング事務局
E-mail： jeolum[at]jeol.co.jp

• [at]は＠に、ご変更ください。

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