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表面分析実践講座2024 実践! 最新走査電子顕微鏡実習 実際の作業を通して身につける最新技術

公開日: 2024/05/23

表面分析実践講座2024が日本電子の昭島製作所にて開催されます。
本講座では、SEM経験者を想定し、基礎と応用に関する講習と共に、専門家の指導の下で最新の実機を用いた実習に参加してもらい、体験を通じた原理の理解の深耕と、応用力の効くオペレーション技術を習得して頂きます。実習では、各種検出器の使い方から低加速電圧観察と分析、さらには試料断面の作製などを対象とし、実践を通じて習得することを目的としています。

日本表面真空学会主催

公式サイト

開催日/会場

  • 日程:
    2024年8月8日 (木) 、9日(金)

  • 日本電子株式会社
    開発館 〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3−1−2
    地図はこちら

  • 交通アクセス:
    JR 青梅 (おうめ) 線
    中神 (なかがみ) 駅 北口より徒歩約10分・立川駅 北口よりタクシーで約15分

参加費・定員

  • 受講料:
    有料 (学会サイトをご参照ください)

  • 定員:
    18名 (定員に達し次第締め切ります)

プログラム

2024年8月8日(木)

時間 タイトル 講師
09:30~10:00 SEM実習前に基礎をおさらい 朝比奈 俊輔
日本電子株式会社
10:00~12:00 SEM実習1(LV-SEMもしくはFE-SEM) 日本電子株式会社 応用技術員
12:00~13:00 昼食
13:00~14:00 SEM実習1続き(LV-SEMもしくはFE-SEM) 日本電子株式会社 応用技術員
14:00~15:00 SEM実習2(FE-SEMもしくはLV-SEM) 日本電子株式会社 応用技術員
15:00~15:30 休憩
15:30~17:30 SEM実習2続き(FE-SEMもしくはLV-SEM) 日本電子株式会社 応用技術員

2024年8月9日(金)

時間 タイトル 講師
09:30~10:00 低加速電子を用いる高分解能測定 髙見 誠一
名古屋大学
10:00~10:55 高分解能走査電子顕微鏡でみるナノ多孔質材料 遠藤  明
産業技術総合研究所
10:55~11:05 休憩
11:05~12:00 複数の像検出器を搭載した最新走査電子顕微鏡を最大活用する -装置誕生から60年の技術の系譜- 佐藤  馨
JFEテクノリサーチ株式会社
12:00~13:00 昼食
13:00~13:30 Arイオンビームを用いたSEM用の試料断面作製 應本 玉恵
日本電子株式会社
13:30~14:20 SEM-EBSD法の原理と材料解析への応用例 森田 博文
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
14:20~14:40 休憩
14:40~15:30 SEM-EDS分析の基礎と実際 森田 正樹
日本電子株式会社
15:30~17:00 装置実習(試料断面作製、EBSD、EDS) 應本 玉恵 (試料断面作製)
森田 博文 (EBSD)
森田 正樹 (EDS)
17:00~17:30 総合討論

お申込み方法

お問い合わせ

日本電子株式会社
デマンド推進本部 企画部 イベントグループ
e-mail: jeol_event[at]jeol.co.jp

  • [at]は@に、ご変更ください。
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